X-RAY XDAL237X熒光射線測厚儀信息
德國菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237 作為能量色散 X 射線熒光(EDXRF)技術(shù)的代表性儀器,專為薄涂層測量與材料分析打造,是電子、半導(dǎo)體、航空航天等高精度制造領(lǐng)域的核心檢測設(shè)備。其采用模塊化設(shè)計與德國嚴(yán)苛技術(shù)標(biāo)準(zhǔn),實現(xiàn)了無損測量與高分辨率分析的平衡。
儀器核心優(yōu)勢在于超精密測量能力,可精準(zhǔn)檢測≤0.05μm 的超薄涂層,元素分析范圍覆蓋鋁(13)至鈾(92),最多同時測定 24 種元素,支持復(fù)雜多層涂層系統(tǒng)的同步分析。配備微聚焦鎢陽極 X 射線管與珀耳帖冷卻半導(dǎo)體探測器,能量分辨率低至 200eV,配合 4 組可電動切換準(zhǔn)直器和 3 種濾片,能針對不同鍍層材質(zhì)優(yōu)化激發(fā)條件。自動化操作是其另一亮點,可編程 XY 工作臺(移動范圍 255mm×235mm)與 Z 軸升降系統(tǒng),搭配激光定位器和高清視頻攝像頭,可實現(xiàn)測量點快速對準(zhǔn)與實時監(jiān)控,保護門開啟時工作臺自動移出加載樣品,操作便捷高效。
應(yīng)用場景廣泛覆蓋電子工業(yè)的 PCB 板、半導(dǎo)體元件功能性鍍層檢測,珠寶鐘表行業(yè)的貴金屬鍍層分析,以及焊料中鉛含量的 RoHS 合規(guī)檢測。通過 WinFTM® 專業(yè)軟件,可完成數(shù)據(jù)實時傳輸、統(tǒng)計分析與報告生成,符合 ISO 3497、ASTM B568 等國際標(biāo)準(zhǔn)。其 C 型槽設(shè)計支持大尺寸扁平樣品測量,140mm 的樣品高度兼容空間,115kg 的穩(wěn)固機身確保長期測量穩(wěn)定性,大幅降低校準(zhǔn)頻次,成為質(zhì)量控制與生產(chǎn)監(jiān)控的可靠伙伴。
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