?電學(xué)測量設(shè)備?：可以和各類源表、數(shù)字萬用表等電學(xué)設(shè)備聯(lián)用，測量電阻率、seebeck、l-V曲線等。

?光譜儀?：可以配合各種光譜儀使用，在低溫環(huán)境下進(jìn)行光譜測量時(shí)，能夠提供穩(wěn)定的低溫環(huán)境，。

?電磁鐵?：可以配合電磁鐵使用，特別是在需要磁場環(huán)境下的實(shí)驗(yàn)中，能夠提供穩(wěn)定的低溫磁場環(huán)境。

?顯微鏡?：可以配合顯微鏡使用，特別是在低溫顯微成像實(shí)驗(yàn)中，能夠提供低溫環(huán)境，滿足特殊需求。

?力學(xué)測試設(shè)備?：可用于需要低溫環(huán)境的力學(xué)測試中，如：與拉伸機(jī)配合在低溫溫條件下進(jìn)行材料應(yīng)力應(yīng)變測試。

電學(xué)測量設(shè)備?：可以和各類源表、數(shù)字萬用表等電學(xué)設(shè)備聯(lián)用，測量電阻率、seebeck、l-V曲線等。

?光譜儀?：可以配合各種光譜儀使用，在低溫環(huán)境下進(jìn)行光譜測量時(shí)，能夠提供穩(wěn)定的低溫環(huán)境，。

?電磁鐵?：可以配合電磁鐵使用，特別是在需要磁場環(huán)境下的實(shí)驗(yàn)中，能夠提供穩(wěn)定的低溫磁場環(huán)境。

?顯微鏡?：可以配合顯微鏡使用，特別是在低溫顯微成像實(shí)驗(yàn)中，能夠提供低溫環(huán)境，滿足特殊需求。

?力學(xué)測試設(shè)備?：可用于需要低溫環(huán)境的力學(xué)測試中，如：與拉伸機(jī)配合在低溫溫條件下進(jìn)行材料應(yīng)力應(yīng)變測試。