菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN500核心特點與優(yōu)勢

特性詳情價值

二合一測量單次測量同時獲取鍍層厚度與成分分析結果提高檢測效率，減少操作步驟 

三點支撐設計確保儀器放置準確穩(wěn)定，提升測量重復性適用于曲面、復雜形狀工件，保證結果一致性

SDD 探測器高性能硅漂移探測器，≤160 eV 分辨率 (Mn-Kα)薄膜檢測精度高，靈敏度好，適合多層 / 合金鍍層

多模式應用支持手持、臺式 (配測量箱)、生產線集成三種模式靈活應對不同場景，大小工件均可測量

無標樣測量基于菲希爾基本參數法，無需標準樣品即可分析簡化現場快速檢測流程，降低成本

IP54 防護防塵防水，適合戶外與惡劣工業(yè)環(huán)境提高設備耐用性，擴大應用范圍

長續(xù)航電池單次充電可持續(xù)工作約 6 小時滿足長時間現場測量需求