FISCHER X射線測厚儀 X-RAY XDLM237信息
菲希爾X射線測厚儀FISCHER XDLM237采用能量色散 X 射線熒光(EDXRF),無損測量鍍層厚度與多元素成分;自上而下的測量方向,適配不平整小零件;結(jié)合菲希爾DCM 距離補償,可簡化不同高度 / 距離的樣品測量。
標(biāo)配WinFTM® 專業(yè)軟件,符合 DIN ISO 3497、ASTM B568 標(biāo)準(zhǔn);具備基本參數(shù)法(FP),無需標(biāo)準(zhǔn)樣也可做定量分析。
與同系列 231(平面臺 + 電動 Z)、232(手動 XY + 電動 Z)的核心區(qū)別:防護(hù)蓋開啟時 XY 臺自動移出至裝卸位,實現(xiàn)批量自動化測量。
關(guān)鍵硬件參數(shù)
X 射線源:微聚焦鎢靶射線管(鈹窗);高壓三檔可調(diào):10/30/50 kV;3 種電動切換初級濾片(Ni、Al、無濾片);4 種準(zhǔn)直器(0.1 mm、0.3 mm、0.6 mm、0.5×0.15 mm 狹縫),最小測量光斑約 0.1 mm
探測器:比例計數(shù)管(Proportional Counter),兼顧速度與靈敏度;測量距離 0–80 mm,DCM 補償
樣品臺:電動可編程 XY+Z;行程 XY 255×235 mm,Z 140 mm;移動速度 80 mm/s;XY 單向重復(fù)精度≤0.01 mm;樣品高度 140 mm,樣品重量 5 kg(降精度可用至 20 kg)
定位系統(tǒng):集成帶變焦(1×/2×/3×/4×)的 CCD 彩色視頻顯微鏡 + 1 級激光指示;十字線帶標(biāo)定標(biāo)尺,可調(diào) LED 照明
元素范圍:Al(13)~U(92),可同時分析最多 24 種元素
電氣與尺寸:電源 115/230 V 50/60 Hz;功耗≤120 W(不含電腦);防護(hù)等級 IP40;外部尺寸 570×760×650 mm;重量約 120 kg;帶 C 型槽的防護(hù)罩可測超大平板(如 PCB)
相關(guān)產(chǎn)品
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