EX1手動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）橢偏測(cè)量原理，針對(duì)納米薄膜厚度測(cè)量領(lǐng)域推出的一款手動(dòng)教學(xué)儀器。

EX1 手動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀適用于納米薄膜的厚度測(cè)量、以及納米薄膜的厚度和折射率測(cè)量。

EX1 手動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀還可用于測(cè)量塊狀材料（如，金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)）的折射率n和消光系數(shù)k。

特點(diǎn)

• 消光法橢偏測(cè)量原理
•   儀器采用消光法橢偏測(cè)量原理，易于操作者理解和掌握橢偏測(cè)量基本原理和過程。
• 方便的樣品水平放置方式
•   采用水平放置樣品，方便樣品取放。
• 精巧的一體化結(jié)構(gòu)
•   集成一體化設(shè)計(jì)，精巧的儀器外形，方便地顯示儀器測(cè)量過程中的光強(qiáng)信息。
• 高準(zhǔn)確性的激光光源
•   采用激光作為探測(cè)光波，測(cè)量波長準(zhǔn)確度高。
• 實(shí)用的樣品測(cè)量功能
•   可測(cè)量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復(fù)折射率。
• 方便的儀器手動(dòng)操作
•       手動(dòng)完成測(cè)量，儀器軟件輔助進(jìn)行測(cè)量數(shù)據(jù)的分析。
• 可擴(kuò)展的儀器功能
•   利用本儀器，可通過適當(dāng)擴(kuò)展，完成多項(xiàng)偏振測(cè)量實(shí)驗(yàn)，如馬呂斯定律實(shí)驗(yàn)、旋光測(cè)量實(shí)、旋光等。