SuperViewW1 白光干涉儀快速掃描測量粗糙度數(shù)據(jù)無偏差
| 參考價 | ¥ 960000 |
| 訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 深圳市中圖儀器股份有限公司
- 品牌 CHOTEST/中圖儀器
- 型號 SuperViewW1
- 產(chǎn)地 學苑大道1001號南山智園B1棟2樓、5樓
- 廠商性質 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2026/3/6 11:03:30
- 訪問次數(shù) 1892
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 化工,能源,電子/電池,綜合 |
中圖儀器SuperView W白光干涉儀快速掃描測量粗糙度數(shù)據(jù)無偏差,以硬核技術參數(shù)鑄就表面粗糙度測量的精準性與專業(yè)性!設備測量粗糙度的核心參數(shù)表現(xiàn)優(yōu)異:
1.粗糙度RMS重復性低至0.005nm,依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國內外標準,可提供300余種2D、3D參數(shù)作為粗糙度評價標準,滿足不同行業(yè)的檢測合規(guī)要求;
2.依托白光干涉技術與復合型EPSI重建算法,單一掃描模式即可完成各類材質的表面粗糙度測量,搭配氣浮式隔振底座與0.1nm分辨率的環(huán)境噪聲評價功能,有效隔離外界振動干擾,定量檢測環(huán)境噪聲,確保粗糙度測量數(shù)據(jù)的高精度與穩(wěn)定性。

W1型號在0.1nm分辨率下掃描速度達1.85μm/s,W1-Ultra型號更提升至8μm/s,快速掃描的同時保證粗糙度測量數(shù)據(jù)無偏差,且設備可完成粗糙度數(shù)據(jù)的去噪、濾波等處理,支持多格式報表導出,讓粗糙度測量更高效、更專業(yè)。
應用領域
1.在半導體領域,為國內頭部半導體企業(yè)提供硅晶片研磨減薄工藝的粗糙度檢測方案,亞納米級的測量精度助力企業(yè)精準把控工藝參數(shù),有效提升硅晶片生產(chǎn)良率;
2.3C電子領域,服務多家手機代工廠,完成玻璃屏、金屬殼模具的粗糙度批量檢測,高效的自動化測量讓企業(yè)日均檢測量提升超2倍,大幅縮短質檢周期;
3.光學加工行業(yè),為光學元件廠商解決超光滑表面的粗糙度測量難題,精準的納米級檢測數(shù)據(jù)幫助企業(yè)優(yōu)化生產(chǎn)工藝,產(chǎn)品返工率降低超10%;
4.汽車零部件領域,為車企配套的精密零部件廠商提供齒輪、軸承等工件的粗糙度檢測,在車間環(huán)境下仍能保持穩(wěn)定的測量精度,滿足企業(yè)規(guī)?;a(chǎn)的質檢需求。
眾多行業(yè)客戶的認可,印證了設備在表面粗糙度測量上的硬實力。

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注:產(chǎn)品參數(shù)與服務可能根據(jù)技術升級實時更新,具體以新標準為準,詳情可咨詢客服獲取完整資料。



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