SuperViewW1 白光干涉儀自動化批量檢測微透鏡
| 參考價 | ¥ 960000 |
| 訂貨量 | ≥1臺 |
- 公司名稱 深圳市中圖儀器股份有限公司
- 品牌 CHOTEST/中圖儀器
- 型號 SuperViewW1
- 產(chǎn)地 學(xué)苑大道1001號南山智園B1棟2樓、5樓
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2026/3/12 11:26:49
- 訪問次數(shù) 1506
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
|---|
中圖儀器SuperViewW系列白光干涉儀自動化批量檢測微透鏡,其自動化批量檢測功能可實現(xiàn)數(shù)萬透鏡單元的無人值守檢測,大幅減少人工質(zhì)檢成本,提升檢測效率的同時降低人為誤差:
·支持Mark標(biāo)記點自動定位與位置糾偏,確保每個微透鏡單元測量位置精準(zhǔn);
·可導(dǎo)入前道工藝坐標(biāo)數(shù)據(jù),實現(xiàn)與生產(chǎn)工藝的無縫銜接;
·能完成數(shù)千至數(shù)萬個微透鏡單元的自動化批量檢測,全程無需人工干預(yù);
·支持檢測數(shù)據(jù)的自動統(tǒng)計、合格判定與分Bin分類,檢測效率與精準(zhǔn)度雙在線,契合微透鏡陣列量產(chǎn)階段的質(zhì)檢要求。

在微透鏡陣列檢測中,SuperViewW白光干涉技術(shù)具有以下特點:
· 非接觸測量,避免損傷微結(jié)構(gòu)
· 納米級垂直分辨率
· 適用于非球面及高傾角結(jié)構(gòu)
· 可重建完整3D表面形貌
通過三維數(shù)據(jù)擬合,可進(jìn)一步計算曲率半徑、矢高、面型誤差等參數(shù)。
應(yīng)用場景
隨著AI算力需求激增,光模塊向800G、1.6T高速演進(jìn),這款設(shè)備可高效完成:
1.光通信光模塊微透鏡陣列檢測,把控核心曲率、面型誤差等參數(shù),保障光耦合效率與信號穩(wěn)定性;
2.適配VCSEL光學(xué)耦合透鏡檢測,精準(zhǔn)測量納米級幾何參數(shù),避免光路偏移問題;
3.在消費電子領(lǐng)域,可實現(xiàn)AR/VR微光學(xué)器件的三維形貌檢測,滿足微光學(xué)元件的高精度質(zhì)控要求;
4.針對晶圓制造環(huán)節(jié),完成晶圓級微透鏡陣列的批量檢測,即便晶圓上有數(shù)萬微透鏡單元,也能實現(xiàn)高效全覆蓋。
SuperViewW系列白光干涉儀自動化批量檢測微透鏡,一臺設(shè)備覆蓋微光學(xué)制造多類核心應(yīng)用場景,適配企業(yè)從研發(fā)到量產(chǎn)的全流程檢測需求,是光通信、微光學(xué)器件制造企業(yè)的質(zhì)檢裝備。
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注:產(chǎn)品參數(shù)與服務(wù)可能根據(jù)技術(shù)升級實時更新,具體以新標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn),詳情可咨詢客服獲取完整資料。



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