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產(chǎn)品分類品牌

化合物半導(dǎo)體SiC、GaN晶圓檢查裝置參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：CI8
LODAS™ – CI8是列真株式會(huì)社推出的一款化合物半導(dǎo)體SiC、GaN晶圓檢查裝置。
型號(hào)： CI8 品牌：LAZIN所在地：上海市 對(duì)比

化合物半導(dǎo)體SiC、GaN檢查裝置

2025/9/4 13:54:045867
UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：
UltraINSP晶圓表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)是表面缺陷檢測(cè)的蕞完善的國(guó)產(chǎn)化替代產(chǎn)品，系統(tǒng)包括四個(gè)模塊可以檢測(cè)所有晶圓表面并同步采集數(shù)據(jù)：晶圓正面、背面、邊緣缺陷檢測(cè)模...
型號(hào)：品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比

晶圓檢測(cè)表面缺陷檢測(cè)缺陷檢測(cè)

2025/9/4 14:52:022887
iFocus晶圓檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：
iFocus是一款用于晶圓外觀缺陷檢測(cè)設(shè)備，利用STI的2D/3D視覺(jué)檢測(cè)系統(tǒng)，采用雙2D Camera同時(shí)采集亮區(qū)和暗區(qū)照片分析特征缺陷；True 3D技術(shù)，...
型號(hào)：品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比

長(zhǎng)川晶圓檢測(cè)iFocus晶圓缺陷檢測(cè)STI

2025/9/4 14:33:063457
FPD Photomask缺陷檢查裝置參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：LODAS™ – LI系列
LODAS™ – LI系列是列真株式會(huì)社推出的一款FPD Photomask缺陷檢查裝置。
型號(hào)： LODAS? – ... 品牌：LAZIN所在地：上海市 對(duì)比

FPD Photomask缺陷檢查裝置

2025/9/4 13:57:562677
GlassWafe缺陷檢查裝置參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：LODAS™ – BI12
LODAS™ – BI12是列真株式會(huì)社推出的一款GlassWafe缺陷檢查裝置。
型號(hào)： LODAS? – ... 品牌：LAZIN所在地：上海市 對(duì)比

GlassWafe缺陷檢查裝置

2025/9/4 13:56:172470
Photomask Blanks缺陷檢查裝置參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：LODAS™ – BI8
LODAS™ – BI8是列真株式會(huì)社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置。
型號(hào)： LODAS? – ... 品牌：LAZIN所在地：上海市 對(duì)比

Photomask Blanks缺陷檢查裝置

2025/9/4 13:51:482970
Photomask Blanks缺陷檢查裝置參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：LODAS™ – AI50/100
LODAS™ – AI50/100是列真株式會(huì)社推出的一款Photomask Blanks缺陷檢查裝置。
型號(hào)： LODAS? – ... 品牌：LAZIN所在地：上海市 對(duì)比

Photomask Blanks缺陷檢查裝置

2025/9/4 13:49:273219
微流控缺陷檢測(cè) 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：Nanotronics nSpec Macro
微流控缺陷檢測(cè) Nanotronics nSpec Macro可以照亮樣品的整個(gè)面，或設(shè)置照明角度和/或離散照明矢量。明場(chǎng)，暗場(chǎng)，正交和可配置的傾斜照明角度與...
型號(hào)： Nanotroni... 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比

微流控缺陷檢測(cè)

2025/9/4 13:17:209602
晶圓缺陷檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號(hào)：Nanotronics nSpec LS
Nanotronics nSpec LS晶圓缺陷檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)是研發(fā)和過(guò)程開(kāi)發(fā)的理想系統(tǒng)。它按順序運(yùn)行多個(gè)掃描。友好的用戶界面軟件使配置配方變得毫不費(fèi)力。而且，隨...
型號(hào)： Nanotroni... 品牌：其他品牌所在地：上海市 對(duì)比

晶圓缺陷檢測(cè)光學(xué)系統(tǒng)晶圓缺陷檢測(cè)

2025/9/4 13:08:185302