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衰變熒光壽命測量系統(tǒng) 參考價：面議
衰變熒光壽命測量系統(tǒng)ChronosDFD是自動熒光壽命測試儀器,能夠測量絡合物的熒光和旋轉相關時間,熒光混合物在1秒內準確度為皮秒?？捎糜诳焖贉y量動力學過程；停...
晶圓熱退火爐 參考價：面議
這款晶圓熱退火爐是半導體晶片惰性氣氛快速熱退火系統(tǒng),適合晶圓的最大直徑為100mm,晶圓通過上部快速檢修門手動裝入腔室，并放置在熱補償石墨臺上。加熱器系統(tǒng)基于線...
光纖端面幾何測量儀 參考價：面議
光纖端面幾何測量儀FiBO?300是一種多功能phase-shifting相移干涉儀，用于對裸光纖和非標準光纖連接器的光纖端面幾何結構測量分析?？勺児鈱W變焦具有...
模場直徑有效面積測量系統(tǒng) 參考價：面議
模場直徑有效面積測量系統(tǒng)是pe.fiberoptics公司光纖模場直徑測試和光纖有效面積分析測量設計的MFD和Aeff測試儀器。
開爾文探針系統(tǒng) 參考價：面議
開爾文探針系統(tǒng)Kelvin Probe可用于光電化學中,精確測量不同半導體和導電材料的功函數，精度高。表面態(tài)在樣品的電荷轉移和功函數變化中起著重要作用。
光纖光譜衰減測量儀 參考價：面議
光纖光譜衰減測量儀SA500HD是為光纖衰減測量設計的光纖衰減測試儀器,利用DSP和固態(tài)單色儀技術測量光纖光譜損耗對波長的變化。高動態(tài)范圍允許測試現在在中發(fā)現的...
超高真空超低溫四探針 參考價：面議
超高真空超低溫四探針SPM是超高真空室內應用設計的UHV極低溫多探針掃描探針顯微鏡，得益于多探針SPM優(yōu)異性能,這款產品可用于納米技術
超高真空開爾文探針系統(tǒng) 參考價：面議
超高真空開爾文探針系統(tǒng)幫助用戶充分利用真空下的工作功能和接觸電位差（CPD）測量。每個系統(tǒng)都配有高質量的手動或電動轉換器，可實現可靠和準確的針尖到樣品定位，跟蹤...
單點開爾文探針系統(tǒng) 參考價：面議
我們的單點開爾文探針系統(tǒng)采用非零信號檢測方法對材料的功函數/費米能級進行非常高質量的測量。
玻璃翹曲度測量儀 參考價：面議
這款玻璃翹曲度測量儀是大尺寸玻璃彎曲度測量儀和玻璃彎曲度測試儀,廣泛用于翹曲度測量,彎曲度測量,表面形貌測量和鍍膜測量等。,玻璃彎曲度測量儀,玻璃彎曲度測試儀由...
寬帶光學膜厚儀 參考價：面議
寬帶光學膜厚儀是一款臺式光學薄膜測厚儀,可測量薄膜厚度,測量薄膜吸收率,測量薄膜透過率,測量薄膜反射率,測量薄膜熒光,也可測量膜層厚度,測量薄膜光學常量折射率n...
雙面探針臺 參考價：面議
雙面探針臺GTL5050旨在解決電路板PCBA雙面探測的困難任務。而不是試圖用垂直安裝的板進行探測
大面積探針臺 參考價：面議
大面積探針臺GTL4060是為較大面積PCBA探針分析測試設計的大面積探針平臺,具有更大的測試平臺，以容納中大型測試板，但仍然能夠在較小的板、插座、連接器和子組...
非接觸式探針臺 參考價：面議
這款非接觸式探針臺是為高頻電子設備、IC和材料測試/表征設計的非接觸式探針測試分析系統(tǒng)。實現了整個毫米波和太赫茲波段電子設備和IC的自動S參數表征。測量范圍為5...
晶圓電阻率測試儀Sheet Resistance 參考價：面議
晶圓電阻率測試儀Sheet Resistance采用非接觸方式測量晶圓電阻率,測量P/N類型和晶圓厚度,適合硅材料和其它材料的Sheet Resistance測...
硅片TTV厚度測試儀,測量硅片厚度 參考價：面議
該硅片TTV厚度測試儀是采用紅外干涉技術的硅片厚度測量儀，能夠精確測量硅片厚度和測量TTV總厚度變化，也能實時測量超薄晶圓厚度（掩膜過程中的晶圓），硅片厚度測試...
四探針電阻率電導率計 參考價：面議
這款四探針電阻率電導率計可快速測量材料的薄層電阻,方塊電阻,sheet resistance電阻率和電導率,適合多種材料和樣品測量。
晶圓厚度變化測量儀 參考價：面議
高分辨率晶圓厚度和厚度變化測量儀MX10x系列是德國測量硅片厚度和TTV厚度變化的儀器。它的分辨率高達10nm，可以在幾秒鐘內適應不同的厚度范圍。
自動四探針電阻率mapping測試系統(tǒng) 參考價：面議
自動四探針電阻率mapping測試系統(tǒng)是為晶圓電阻率繪圖mapping設計的工業(yè)級自動四點探針電阻率測試系統(tǒng)。采用成熟的行業(yè)標準，提供快速、準確和可靠的晶圓樣品...
晶圓翹曲度測量儀 參考價：面議
這款多功能晶圓翹曲度測量儀是為晶圓生產線上自動晶圓翹曲度測量設計的大型自動晶圓測量儀器,具有晶圓厚度測量,晶圓翹曲度測量,晶圓BOW/WARP測量,晶圓wave...
單晶多晶硅片壽命測試儀 參考價：面議
單晶多晶硅片壽命測試儀是專用為晶圓品質檢驗,測量少子壽命,測量光電導率和電阻率等研發(fā)的晶圓壽命測試儀器
晶圓少子壽命測量儀 參考價：面議
這款晶圓少子壽命測量儀是專業(yè)為晶圓少數載流子復合壽命測量設計的少子壽命測試儀器。
單點少子壽命測量儀 參考價：面議
單點少子壽命測量儀系統(tǒng)是經濟型晶圓壽命測量儀器,對不同制備階段的硅材料電學參數進行表征。
溫度型少子壽命測試儀 參考價：面議
這款溫度型少子壽命測試儀是為25℃~200℃范圍內晶圓少數載流子復合壽命測量設計的溫度決定型少子壽命測定儀器。
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