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固緯IC測(cè)試儀GUT - 6000AIC測(cè)試儀特性:
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| 自動(dòng)搜尋 IC 編號(hào)功能 開機(jī)自我偵測(cè)診斷功能 過載保護(hù)功能 可量測(cè)之 IC 種類超過 1800 種 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS 4000 及 4500 系列 CMOS zui大可測(cè) Pin 數(shù) : 28 Pin | ||||||||||||||||||||||||
固緯IC測(cè)試儀GUT - 6000AIC測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：
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中國(guó)臺(tái)灣固緯IC測(cè)試儀選型表:
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- TESTO/德國(guó)德圖
- 其他品牌
- KYORITSU/日本共立
- RAE/美國(guó)華瑞
- Phase/美國(guó)菲思圖
- TIME/北京時(shí)代
- AND/日本愛安德
- MEGGER/美國(guó)
- New Cosmos/日本新宇宙
- KIMO/法國(guó)凱茂
- RIKEN/日本理研
- TES/中國(guó)臺(tái)灣泰仕
- Multi/日本萬用
- FLUKE/福祿克
- ELCOMETER/英國(guó)易高
- OHAUS/奧豪斯
- Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾
- SHIMPO/新寶
- ElektroPhysik/德國(guó)EPK
- 海創(chuàng)高科
- DeFelsko/美國(guó)狄夫斯高
- SIGLENT/鼎陽(yáng)
- Hitachi/日立
- TeKtronix/美國(guó)泰克
- Faith/費(fèi)思
- Proceq/瑞士博勢(shì)
- MarCal/德國(guó)馬爾
- 博世
- Kanomax/日本
- HILTI/德國(guó)喜利得
- FLIR/菲力爾
- SENTRY/中國(guó)臺(tái)灣先馳
- 香港?，?/a>
- ROTRONIC/羅卓尼克
- RION/日本理音
- Cygnus/英國(guó)信固
- Agilent/安捷倫
- OLYMPUS/奧林巴斯
- DESCO/美國(guó)
- 英思科
- MITUTOYO/日本三豐
- Brookfield/博勒飛
- Qnix/德國(guó)尼克斯
- Bushnell/美國(guó)博士能
- KETT/日本
- INFICON/美國(guó)
- Leica/徠卡
- OPTEX/日本奧泰斯
- BS/百試
- Kleinwachter/德國(guó)科納沃茨特
- HACH/哈希
- Honeywell/霍尼韋爾
- LANDTEK/蘭泰
- Motive/中國(guó)臺(tái)灣
- CENTER/中國(guó)臺(tái)灣群特
- CEM/香港
- ION/英國(guó)離子
- 3nh/三恩時(shí)
- 麥科信
- FOERSTER/德國(guó)
- MINOLTA/日本柯尼卡美能達(dá)
- 智博聯(lián)
- KANETEC/日本強(qiáng)力
