精密四探針電阻率測試儀  型號： HAD-S2663

可根據(jù)不同材料特性需要，有多種測試探頭可供選擇。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、石墨烯、熱敏材料、金屬、導電塑料等硬質(zhì)材料的電阻率和方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測試柔性材料導電薄膜、PE膜、電容卷積膜、金屬箔、金屬涂層或者碳紙、薄膜、陶瓷、玻璃基底上導電膜（ITO膜）、鋰電池電池電極片、氫燃料電池電極片或納米涂層等半導體材料的電阻率和方阻。儀器適用于半導體材料廠、高等院校和科研單位對導體、半導體材料導電性能的測量。

精密四探針電阻率測試儀性能特點

v 超大液晶人性化操作界面

v 多種測量參數(shù)可選

v 測量數(shù)據(jù)自動保持功能

v 超快測量并顯示讀數(shù)

v 量程有自動和手動雙模式

v 檔號顯示及檔計數(shù)功能

v 兼容多種材料測量

v 專業(yè)的通訊接口可以與PC進行數(shù)據(jù)通訊及對儀器的遠程控制

應用

l 金屬片、導電金屬箔材料、金屬箔上涂層

l 單晶硅、多晶硅、硅片、硅晶棒、硅錠、硅塊料

l 石墨烯、鋰電池電極、氫燃料電池雙極板、太陽能電池片

產(chǎn)品型號 HAD-S2661 HAD-S2662 HAD-S2663 HAD-S2663A  

HAD-S2661  電阻率 10µΩ?cm－200kΩ?cm     方塊電阻率50µΩ/sq－1MΩ/sq
 模擬電阻 10µΩ－200kΩ

HAD-S2662  電阻率  1µΩ?cm－2MΩ?cm  方塊電阻率  10µΩ/sq－2MΩ/sq  模擬電阻 1µΩ－2MΩ

HAD-S2663  電阻率  1µΩ?cm－20MΩ?cm 方塊電阻率   10µΩ/sq－20MΩ/sq  模擬電阻  10µΩ－20MΩ

HAD-S2663A   電阻率   0.1µΩ?cm－20MΩ?cm  方塊電阻率    1µΩ/sq－20MΩ/sq模擬電阻  1µΩ－20MΩ

性能指標

顯示器 高清 LCD 液晶顯示

顯示位數(shù) 6 位

精度 電阻率、方阻：4%；模擬電阻：0.1%；

測量功能

量程方式 自動，保持

測量速度 快速: 10 次/秒，中速: 5 次/秒，慢速: 2 次/秒

觸發(fā)方式 內(nèi)部，手動，外部

分選和接口

分選功能 內(nèi)建比較器：合格、上超和下超

訊響 合格，不合格，關(guān)閉

接口配置 RS-232C 接口/HANDLER/USB Device（選件）

一般規(guī)格

操作環(huán)境 0°C －40°C ，≤90%RH

保證精度環(huán)境 23±5℃，≤80%RH

電源要求 198V－242V(AC），47.5Hz－63Hz

功耗 ≤30 VA

尺寸、重量 335 mm(寬) x 120 mm(高) x 320 mm(深) 5.5kg