RIE等離子刻蝕機(jī) 參考價(jià)：面議
RIE等離子刻蝕機(jī)該等離子刻蝕機(jī)配備了用戶友好的強(qiáng)大軟件，具有模擬圖形用戶界面，參數(shù)窗口，工藝編輯窗口，數(shù)據(jù)記錄和用戶管理。
ICP-RIE等離子刻蝕機(jī) 參考價(jià)：面議
ICP-RIE等離子刻蝕機(jī)三螺旋平行板天線(PTSA)等離子源是SENTECH等離子體工藝設(shè)備的屬性。PTSA源能生成具有高離子密度和低離子能量的均勻等離子體。...
接觸式粗糙度輪廓儀 參考價(jià)：面議
接觸式粗糙度輪廓儀DANTSIN-OPTACOM致力于各行業(yè)領(lǐng)域的實(shí)驗(yàn)室或工作現(xiàn)場(chǎng)精密輪廓粗糙度測(cè)量需求，為您提供各種類型的輪廓形貌掃描測(cè)量?jī)x或精密輪廓粗糙度綜...
GOM三維掃描儀 參考價(jià)：面議
GOM三維掃描儀我們長(zhǎng)期專注于半導(dǎo)體材料研究與分析設(shè)備的經(jīng)銷和代理，為高校、企業(yè)科研工作者提供專業(yè)的分析解決方案。以專業(yè)技能為導(dǎo)向，用科技來(lái)解決用戶在科研中遇到...
非接觸粗糙度輪廓儀 參考價(jià)：面議
非接觸粗糙度輪廓儀白光干涉微觀形貌及粗糙度儀設(shè)計(jì)用于高精度微觀形貌分析及高精度粗糙度測(cè)量的應(yīng)用。
X射線探傷機(jī) 參考價(jià)：面議
X射線探傷機(jī)公司制造X射線工業(yè)設(shè)備用于控制產(chǎn)品質(zhì)量，如應(yīng)用于汽車、航空和食品等部門。此外，公司制造的X射線設(shè)備也應(yīng)用于醫(yī)療和安全部門。每個(gè)產(chǎn)品在國(guó)內(nèi)設(shè)計(jì)制造，從...
X射線探傷機(jī) 參考價(jià)：面議
X射線探傷機(jī)X 射線工業(yè)設(shè)備用于控制產(chǎn)品質(zhì)量，如應(yīng)用于汽車、航空航天、管件、研究所和食品等不同行業(yè)。此外，制造的 X 射線設(shè)備也應(yīng)用于醫(yī)療和安檢部門。每個(gè)產(chǎn)品在...
掃描電子顯微鏡SEM 參考價(jià)：面議
掃描電子顯微鏡SEM具有出色的探測(cè)效率，能夠輕松地實(shí)現(xiàn)亞納米分辨成像。無(wú)論是在高真空還是在可變壓力模式下，更高的表面細(xì)節(jié)信息靈敏度讓您在對(duì)任意樣品進(jìn)行成像和分析...
掃描電子顯微鏡SEM 參考價(jià)：面議
掃描電子顯微鏡SEMEVO系列將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗(yàn)結(jié)合在一起， 同時(shí)能夠吸引經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶以及新用戶。無(wú)論是在生命科學(xué)， 材料科學(xué)， ...
卡爾蔡司電子顯微鏡SEM 參考價(jià)：面議
卡爾蔡司電子顯微鏡SEM，將高級(jí)的分析性能與場(chǎng)發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，利用成熟的 Gemini 電子光學(xué)元件。多種探測(cè)器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sig...
掃描電子顯微鏡SEM 參考價(jià)：面議
掃描電子顯微鏡SEM借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運(yùn)用 91 條并行電子束的采集速度?，F(xiàn)如今，您能夠以納米分辨率對(duì)厘米級(jí)樣品成像。這款出色的掃描電子...
掃描電子顯微鏡SEM 參考價(jià)：面議
掃描電子顯微鏡SEM蔡司Crossbeam系列的FIB-SEM結(jié)合了場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)出色的成像和分析性能，和新一代聚焦離子束(FIB)優(yōu)異的...
掃描電子顯微鏡SEM 參考價(jià)：面議
掃描電子顯微鏡SEM EVO18 Research 是學(xué)術(shù)和研究機(jī)構(gòu)使用的一款分析型掃描電子顯微鏡。EVO 18 Research 為您提供優(yōu)異的成像品質(zhì)，具有...
掃描電子顯微鏡SEM 參考價(jià)：面議
掃描電子顯微鏡SEM標(biāo)配能譜儀和波譜儀(EDS & WDC)接口，另有用于高級(jí)形貌與化學(xué)分析的全集成式顆粒分析和識(shí)別解決方案可供選擇。通過升級(jí)LaB6高亮度光源...
影像測(cè)量?jī)x 參考價(jià)：面議
影像測(cè)量?jī)x來(lái)自蔡司的O-INSPECT復(fù)合式測(cè)量機(jī)使您能理想地測(cè)量到每一個(gè)特征——通過光學(xué)或接觸式。一個(gè)重要的特色：O-INSPECT在18-30℃的溫度范圍內(nèi)...
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 參考價(jià)：面議
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)MMZ G產(chǎn)品線的大型龍門式測(cè)量機(jī)滿足*高的需求：其提供了所有蔡司測(cè)量機(jī)中*大的測(cè)量范圍，以及很高的精度。這使得這種測(cè)量機(jī)適合測(cè)量大型的零件。MMZ...
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 參考價(jià)：面議
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)相較于 MMZ E 龍門式測(cè)量機(jī)，MMZ B 產(chǎn)品線具有更強(qiáng)度的設(shè)計(jì)。配合VAST gold 掃描探頭，可提供更的度和性能。同時(shí)，其設(shè)計(jì)側(cè)在于減少維...
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 參考價(jià)：面議
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)MMZ T 產(chǎn)品線特別強(qiáng)韌。配備的滾柱軸承使得系統(tǒng)不易收到外界影響，而且也提供良好的導(dǎo)軌特性。通過均一地組合材料和FEM化結(jié)構(gòu)，其獲得了溫度穩(wěn)定性和...
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 參考價(jià)：面議
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)PRO產(chǎn)品線的設(shè)計(jì)基于一個(gè)模塊化的全新平臺(tái)策略。主要特色在于：在獲得高測(cè)量精度的同時(shí)實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量，還能夠與變化的生產(chǎn)需求順利匹配。
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 參考價(jià)：面議
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)CenterMax? navigator 可以無(wú)縫融入任意生產(chǎn)線，并經(jīng)得起所有生產(chǎn)環(huán)境的考驗(yàn)：無(wú)論是*大的溫度波動(dòng)還是典型的車間振動(dòng)，都不會(huì)影響其精...
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 參考價(jià)：面議
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)PRISMO navigator可速獲取為確的測(cè)量結(jié)果。navigator技術(shù)是為蔡司所研發(fā)的高速高度掃描技術(shù)。智能化參數(shù)設(shè)定以確保測(cè)量的確性。得益...
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 參考價(jià)：面議
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)蔡司VAST XT gold探頭具有高速掃描功能，除可在短時(shí)間測(cè)定幾何特征外，還可確測(cè)量及評(píng)定形狀誤差如圓度、平面度等特性。探針小直徑僅為0.3毫米...
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 參考價(jià)：面議
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)ACCURA即使在溫度波動(dòng)變化環(huán)境中，也能確保在高度的前提下實(shí)現(xiàn)高速檢測(cè)。全新材料的應(yīng)用使ACCURA受溫度變化的影響降到了低。ACCURA適合未來(lái)...
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 參考價(jià)：面議
三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)蔡司XENOS可在各類要求高測(cè)量精度的領(lǐng)域使用——從科研機(jī)構(gòu)的測(cè)量實(shí)驗(yàn)室、航空和航天工業(yè)直至光學(xué)工業(yè)。這一三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)量精度達(dá)到技術(shù)ji限，其測(cè)...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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