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EPOCH 6LS 便攜式超聲探傷儀EPOCH 6LS超聲探傷儀機(jī)型簡潔、輕盈便攜、功能齊備,性能可靠。EPOCH 6LS探傷儀專門為ZG野外維護(hù)和維修市場而設(shè)...
奧林巴斯 測厚儀 Magna-Mike 8600Magna-Mike 8600是一款利用簡單的磁法對非鐵性材料進(jìn)行可靠且重復(fù)性很高的厚度測量的便攜式測厚儀。Ma...
便攜式超聲探傷儀EPOCH 6LT便于攜帶、使用方便的EPOCH 6LT探傷儀是一款符合人體工程學(xué)要求的堅(jiān)固耐用的儀器,不僅可使操作人員得心應(yīng)手地進(jìn)行操作,還可...
布魯克 X射線鍍層測厚儀M1 ORA是適用于珠寶行業(yè)的臺(tái)式X射線鍍層測厚儀,結(jié)構(gòu)緊湊、占用空間小。
鍍層測厚儀M1M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀,可對大件樣品和鍍層樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的分析。分析的元素范圍:原子序數(shù)22號(hào)(鈦)-92號(hào)(鈾)中的元素...
大尺寸鍍層測厚儀M2 BLIZZARD采用開槽設(shè)計(jì),適用于扁平形狀和尺寸過大的樣品。
布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE布魯克電荷靈敏前置放大器 CUBE(立方)是一種以脈沖復(fù)位模式運(yùn)行的單片電荷靈敏式前置放大器,借助外部電阻器,也可以以連續(xù)復(fù)位...
DANTE數(shù)字脈沖處理器DANTE數(shù)字脈沖處理器伽馬射線探測器信號(hào),數(shù)字脈沖處理器,前置放大器芯片,X射線信號(hào),前置放大器芯片,SDD探測器,同步輻射光源。
薄膜測厚儀MProbe系列反射光譜干涉法是一種非接觸式、無損的、快速的光學(xué)薄膜厚度測量技術(shù)。
反射膜厚儀MProbe VisMProbe Vis薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。
反射膜厚儀MProbe UVVisSRMProbe UVVisSR薄膜測厚儀大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。
反射膜厚儀MProbe RT該機(jī)大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測量。
反射膜厚儀MProbe NIR采用近紅外光譜(NIR)的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應(yīng)用領(lǐng)域,比如在可見光范圍內(nèi)有吸收的太陽能薄膜(CIGS,...
顯微反射膜厚儀MProbe MSPMProbe MSP顯微薄膜測厚儀適用于實(shí)時(shí)在線測量,多層測量,非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料),新材料可以...
涂層測厚儀SURFIX®X系列測量儀器: 彩屏, PC 連接,易操作,以及適合PHYNIX探頭
涂層測厚儀SURFIX®系列用于鋼/鐵以及有色金屬的清漆、油漆和電鍍以及陽氧化涂層的快速測量
涂層測厚儀SURFIX®簡易系列Surfix® 簡易系列的測量探頭均由硬質(zhì)合金制成,這意味著它具有幾乎無限的使用壽命。
便攜式涂層測厚儀PaintCheck不能測量涂層的厚度,也能提供有關(guān)涂層結(jié)構(gòu)的有價(jià)值信息
涂層測厚儀 探頭我們提供多種不同的儀器和探頭,幾乎能夠測量金屬材料的涂層厚度。
馬爾文帕納科納米粒度電位儀馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer Ultra 是用于測量顆粒與分子大小、顆粒電荷和顆粒濃度的系統(tǒng),在結(jié)合了 Zetasiz...
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