產(chǎn)品名稱：光學(xué)相干斷層掃描儀

產(chǎn)品型號：IRiS

符合標(biāo)準(zhǔn)：YY 0290/YY-T 0290

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1.范圍大：生產(chǎn)，研發(fā)均可以使用。

2.測試速度快：幾秒完成幾何尺寸檢測。

3.測量方式：可空氣中測量/可溶液中測量。

4.多樣性檢測：前表面，后表面，襻的檢測。

5.高速掃描：20KHZ掃描頻率。

6.高清成像：1200萬像素?cái)z像頭，細(xì)節(jié)清晰可見。

7.無損測量：無接觸式測量，避免樣品損傷。

檢測功能：

1.人工晶狀體厚度檢測

2.人工晶狀體直徑檢測

3.人工晶狀體曲率檢測

4.融入產(chǎn)線：提高產(chǎn)線各環(huán)節(jié)的測量能力自動化檢測（托盤+機(jī)械手+生產(chǎn)模塊軟件），產(chǎn)線檢測過程中，直接與CAD設(shè)計(jì)比對。

5.測量圖片