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薄膜應力及基底翹曲測試設備產(chǎn)品品牌：Frontier Semiconductor產(chǎn)品型號：薄膜應力和硅片翹曲檢測儀產(chǎn)品描述：光學設計減少圖形襯底對激光的干涉。
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薄膜應力及基底翹曲測試設備 FSM推出基于商業(yè)化應用的激光掃描光學杠桿（Optilever）技術，主要應用于薄膜應力和晶圓彎曲測量。該設備頻繁使用在分析解決諸如...
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