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Filmetrics F20單點(diǎn)薄膜透明膜厚度測量儀 參考價(jià)：面議
Filmetrics F20單點(diǎn)薄膜透明膜厚度測量儀可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果。基于模塊化設(shè)計(jì)的特點(diǎn)，F(xiàn)ilmetrics F20 膜厚測量儀適用于各種應(yīng)用。
膜厚測量儀（厚度范圍1nm~10mm） 參考價(jià)：面議
膜厚測量儀（厚度范圍1nm~10mm），只需單擊鼠標(biāo)即可測量 1nm 至 10mm 的薄膜厚度。幾乎可以測量任何材料，直觀的設(shè)計(jì)意味著您可以在幾分鐘內(nèi)進(jìn)行一次薄...
薄層方塊電阻測量儀-非接觸式 參考價(jià)：面議
薄層方塊電阻測量儀-非接觸式：昊量光電新推出用于導(dǎo)電薄膜和薄金屬層方塊電阻測量的非接觸式薄膜四方針方塊電阻方阻測量儀EddyCus TF Series，這款非接...
非接觸式金屬膜厚測量儀 參考價(jià)：面議
昊量光電新推出用于導(dǎo)電薄膜和薄金屬層膜厚測量的非接觸式金屬膜厚測量儀EddyCus TF Series，這款金屬膜厚測量儀可以非接觸式實(shí)時(shí)測量，對(duì)導(dǎo)電薄膜的膜厚...
膜厚測量儀（測量厚度1nm~1.8mm） 參考價(jià)：面議
膜厚測量儀（測量厚度1nm~1.8mm）美國Semisonsoft公司MProbe系列薄膜測厚儀測量厚度可以低至1nm，厚至1.8mm，埃級(jí)分辨率，非接觸式無損...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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