Huber 151石墨單色儀

Huber 151 是德國 Huber 公司推出的一款基于高定向熱解石墨（HOPG）平板晶體的低成本 X 射線單色儀，專為實(shí)驗(yàn)室常規(guī) X 射線衍射/散射場景設(shè)計(jì)，核心價值是用高性價比方案實(shí)現(xiàn) X 射線單色化提純與背景降噪，為粉末 XRD、單晶衍射、小角散射等實(shí)驗(yàn)提供低背景、光斑均勻的穩(wěn)定單色 X 射線，適配預(yù)算有限且追求數(shù)據(jù)可靠性的常規(guī)實(shí)驗(yàn)室與教學(xué)機(jī)構(gòu)。

151 型石墨單色器內(nèi)裝有一塊高度定向的熱解石墨晶體（HOPG），該晶體置于一個緊湊的金屬外殼中。

在防輻射外殼內(nèi)，可以通過手動調(diào)節(jié)使晶體達(dá)到適用于所用 X 射線波長的蕞佳布拉格角。衍射光束會通過一個小鉛玻璃窗口上的熒光屏直接顯現(xiàn)出來?？烧{(diào)節(jié)的進(jìn)光口和出光口能夠精確限制 X 射線的傳播路徑。還提供了多種適配板，可用于將單色器安裝在所有標(biāo)準(zhǔn)制造商的管罩上。

Huber 151 石墨單色儀核心功能與價值：

• 單色化提純：高效濾除 Kα?、Kβ 線及連續(xù)譜，篩選單一特征波長，提升衍射峰信噪比與峰位準(zhǔn)確性，降低定量分析誤差。

• 背景降噪：大幅減少雜散輻射與探測器暗噪聲，尤其適合小晶體、薄膜、非晶等弱衍射信號樣品的信號采集。

• 系統(tǒng)適配：可快速匹配常規(guī) X 射線源與標(biāo)準(zhǔn)測角儀、ccd / 面探測器，無需復(fù)雜改造，安裝后即可穩(wěn)定運(yùn)行。

• 低成本運(yùn)維：無復(fù)雜冷卻與校準(zhǔn)需求，維護(hù)成本低，適合高頻次教學(xué)實(shí)驗(yàn)與日常質(zhì)量篩查。

Huber 151 石墨單色儀典型應(yīng)用場景：

• 粉末 XRD：常規(guī)物相分析、定量相分析，降低背景干擾，提升峰形對稱性，減少定量計(jì)算偏差。

• 單晶衍射：小分子 / 蛋白質(zhì)單晶結(jié)構(gòu)解析，增強(qiáng)弱衍射點(diǎn)對比度，減少假峰與背景干擾，提升數(shù)據(jù)完整性。

• 小角散射（SAXS/WAXS）：納米結(jié)構(gòu)、薄膜厚度分析，均勻光斑搭配低背景，保障散射曲線基線穩(wěn)定，提升數(shù)據(jù)可靠性。

• 殘余應(yīng)力分析：實(shí)驗(yàn)室 X 射線應(yīng)力測量，穩(wěn)定單色源減少應(yīng)力計(jì)算的角度偏差，保障測量精度。

• 教學(xué)與質(zhì)檢：基礎(chǔ)衍射教學(xué)演示、工業(yè)材料質(zhì)量篩查，安裝便捷、運(yùn)維簡單，適配高頻次使用場景。

晶體數(shù)據(jù)：

Dimensions：12mm x 12mm x 1mm

Surface orientaded to (002) plane ：2d=6.714 A

Mosaic-diffraction angle width： 0.4° +/- 0.1°

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