自動(dòng)化晶圓定向檢測(cè)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
自動(dòng)化晶圓定向檢測(cè)系統(tǒng)在線優(yōu)化晶圓對(duì)準(zhǔn)，大幅提升產(chǎn)能。在線式晶圓取向圖譜分析，符合晶圓廠標(biāo)準(zhǔn)。
自動(dòng)化碳化硅晶錠粘接定向儀 參考價(jià)：面議
自動(dòng)化碳化硅晶錠粘接定向儀X 射線管與探測(cè)器固定不動(dòng)，只需單次測(cè)量周期，且無需單色儀。單次旋轉(zhuǎn)即可采集全定向測(cè)定所需全部數(shù)據(jù)。
晶錠自動(dòng)化單晶定向系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
晶錠自動(dòng)化單晶定向系統(tǒng)重塑晶錠研磨前處理工藝：自動(dòng)化、高精度、高效率?？墒宫F(xiàn)有設(shè)備滿足 200 毫米及 300 毫米規(guī)格晶錠的高級(jí)外徑 / 缺口技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)。
原德國EFG x射線光管 參考價(jià)：面議
原德國EFG x射線光管高質(zhì)量且耐用的分析X射線管為X射線衍射儀、晶體定向儀配套使用。本產(chǎn)品的通用性強(qiáng)，可以在國內(nèi)外多種儀器上替代進(jìn)口同類產(chǎn)品使用，需復(fù)雜調(diào)試即...
粉末衍射儀 參考價(jià)：面議
D8 DISCOVER是旗艦款多功能X射線衍射儀，也稱粉末衍射儀，帶有諸多前沿技術(shù)組件。它專為在環(huán)境條件下和非環(huán)境條件下，對(duì)從粉末、非晶和多晶材料到外延多層薄膜...
粉末衍射儀 參考價(jià)：面議
D8 ADVANCE 粉末衍射儀是一種基于X射線衍射原理，用于分析粉末狀或多晶材料晶體結(jié)構(gòu)的科學(xué)儀器。它通過測(cè)量X射線與樣品相互作用后產(chǎn)生的衍射圖譜，揭示材料的...
雙棱鏡超寬連續(xù)光譜單色儀 參考價(jià)：面議
DPM100雙棱鏡超寬連續(xù)光譜單色儀的出現(xiàn)，成功打破了傳統(tǒng)單色儀在光譜范圍和雜散光方面的局限，為光譜學(xué)技術(shù)的應(yīng)用帶來明顯提升。它覆蓋0.4-7.3 eV的超寬光...
新型臺(tái)式三維X射線顯微鏡 參考價(jià)：面議
X4 POSEIDON 是優(yōu)良的高分辨率三維 X 射線成像系統(tǒng)，它建立在我們久負(fù)盛名的 SKYSCAN 1272 和 SKYSCAN 1275 系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之...
臺(tái)式X射線輻射儀 參考價(jià)：面議
Freiberg Instruments 開發(fā)的X射線輻照儀，是一款單獨(dú)運(yùn)行的定量輻照設(shè)備，可與光釋光/熱釋光測(cè)年設(shè)備（如：lexsyg），順磁測(cè)年設(shè)備（如：M...
動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜儀D-SIMS|束蘊(yùn)儀器 參考價(jià)：面議
ADEPT-1010 專為淺層半導(dǎo)體注入和絕緣薄膜的自動(dòng)分析而設(shè)計(jì)，是大 多數(shù)半導(dǎo)體開發(fā)和支持實(shí)驗(yàn)室的常用工具。通過優(yōu)化的二次離子收集光學(xué)系統(tǒng) 和超高真空設(shè)計(jì)，...
PDF-4 Axiom -精簡版PDF-5+數(shù)據(jù)庫 參考價(jià)：200000
PDF-4 Axiom -精簡版PDF-5+數(shù)據(jù)庫，所收錄物相的標(biāo)準(zhǔn)衍射卡片涵蓋約多種科學(xué)研究領(lǐng)域，如電池材料、熱電材料、超導(dǎo)材料、金屬材料、陶瓷材料、礦物材料...
PDF-5+2025 參考價(jià)：200000
PDF-5+2025版數(shù)據(jù)庫,所收錄物相的標(biāo)準(zhǔn)衍射卡片涵蓋約50多種科學(xué)研究領(lǐng)域,如電池材料,熱電材料,超導(dǎo)材料,金屬材料,陶瓷材料,礦物材料,金屬合金,藥物,...
硬X射線光電子能譜儀HAXPES 參考價(jià)：面議
硬X射線光電子能譜儀HAXPES，下一代透明發(fā)光材料使用直徑約為10nm~50nm 的納米量子點(diǎn)(QDs)，結(jié)合使用 XPS(Al Ka X射線)和 HAXPE...
俄歇電子能譜儀|束蘊(yùn)儀器出品 參考價(jià)：面議
PHI公司的PHI 710俄歇電子能譜儀是一臺(tái)設(shè)計(jì)高性能的俄歇電子能譜（AES）儀器。該設(shè)備能分析納米級(jí)特征區(qū)域,超薄薄膜和多層結(jié)構(gòu)表界面的元素態(tài)和化學(xué)態(tài)信息。
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀 參考價(jià)：面議
飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀PHI nano TOF3+，先進(jìn)的多功能TOF-SIMS具有更強(qiáng)大的微區(qū)分析能力，更加出色的分析精度
X射線光電子能譜儀 參考價(jià)：面議
PHI X射線光電子能譜儀 提供了一種全新的用戶體驗(yàn)，儀器高性能、全自動(dòng)化、簡單易操作。 操作界面可在同一個(gè)屏幕內(nèi)設(shè)置常規(guī)和高級(jí)的多功能測(cè)試參數(shù)，同時(shí)保留諸如進(jìn)...
C60-40 離子源系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
C60-40 離子源系統(tǒng) 是目前性能較高的C60光束，具有300納米的光斑尺寸和高達(dá)1毫安的束流。從生物醫(yī)學(xué)應(yīng)用到聚合物科學(xué)和冶金，C60-40都可以做到這一點(diǎn)...
C60-20 離子源系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
lonoptika公司的C60-20 離子源系統(tǒng)是一種高性能的20kV離子束系統(tǒng)，用于高化學(xué)復(fù)雜性樣品的SIMS分析。C60-20是一種功能強(qiáng)大，成本效益高的分...
C60-20S 離子源系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
C60-20S 離子源系統(tǒng)雖然所有離子束都會(huì)濺射或蝕刻，但我們的一些系統(tǒng)的表面是專為高效和快速濺射而設(shè)計(jì)的。濺射光束有三個(gè)特點(diǎn)：高電流、大光斑尺寸和寬視場(chǎng)。這些...
離子源系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
GCIB-10S 離子源系統(tǒng)是一種高性能10千伏氣體團(tuán)簇離子束，用于快速、低損傷濺射和更高質(zhì)量的表面分析。GCIB 10S提供了大量有用的功能，包括實(shí)時(shí)集群大小...
離子源系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
GCIB-40 離子源系統(tǒng)是一種40 kV氣體團(tuán)簇離子束，產(chǎn)生團(tuán)簇離子聚焦束，用于需要對(duì)分子離子敏感的分析應(yīng)用。GCIB在較大程度地減少碎片和從表面去除完整分子...
離子源系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
GCIB-70 離子源系統(tǒng)是一種70 kV高性能氣體團(tuán)簇離子束，可產(chǎn)生高度聚焦的團(tuán)簇離子束，用于高分辨率成像SIM，具有沒有可以比較的的靈敏度。在SIMS中使用...
少子壽命測(cè)試儀µPCD/MDP (MDPpro 850+) 參考價(jià)：面議
少子壽命測(cè)試儀μPCD/MDP (MDPpro 850+)用于單晶硅錠、硅磚和硅晶圓片的生產(chǎn)和質(zhì)量監(jiān)控。用于HJT、HIT、TOPcon、雙面PERC、PERC...
低電阻率測(cè)試儀（RESmap ） 參考價(jià)：面議
電阻率測(cè)試儀（RESmap ）在對(duì)低電阻率晶錠和晶圓進(jìn)行非接觸式測(cè)量方式上擁有非常重要的重復(fù)性 Si | Ge | 化合物半導(dǎo)體 | 寬帶隙 | 材料 | 金屬...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
7