ZEISS SPECTRUM Ⅱ 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 參考價(jià)：面議
新型ZEISS SPECTRUM三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的*技術(shù)將使您獲得更高的品質(zhì)。此外，ZEISS VAST XXT的掃描技術(shù)可實(shí)現(xiàn)圓度誤差測(cè)量，這對(duì)于不斷提高的質(zhì)量和...
ZEISS ACCURA 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 參考價(jià)：面議
性能和精度是否是您的頭等要?jiǎng)?wù)？憑借豐富的配置，ACCURA可根據(jù)您的需求——以及預(yù)算度身定制。此外，系統(tǒng)采用的模塊式結(jié)構(gòu)確保測(cè)量機(jī)擁有的可擴(kuò)展性。當(dāng)用戶對(duì)配置、...
ZEISS CONTURA 緊湊型測(cè)量機(jī) 參考價(jià)：面議
CONTURA——來(lái)自蔡司的靈活、可靠和優(yōu)秀的*測(cè)量平臺(tái)。新一代測(cè)量機(jī)精度更高，可兼容多種光學(xué)式探頭，從而實(shí)現(xiàn)更廣的測(cè)量范圍。優(yōu)異的測(cè)量技術(shù)、蔡司CALYPSO...
ZEISS MICURA 參考價(jià)：面議
測(cè)量范圍[dm] 5/5/5E0 = 0.7 μm
ZEISS PRISMO 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 參考價(jià)：面議
測(cè)量范圍[dm]可達(dá)16/42/10E0自0.5 μm起(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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