澤攸臺(tái)階儀高精度測(cè)量得力助手 參考價(jià)：500000
澤攸臺(tái)階儀高精度測(cè)量得力助手對(duì)于需要較高測(cè)量精度的場(chǎng)景，澤攸臺(tái)階儀憑借其精細(xì)的設(shè)計(jì)和穩(wěn)定的性能，能提供可靠的測(cè)量數(shù)據(jù)，適合科研機(jī)構(gòu)和高精度制造企業(yè)使用。
澤攸臺(tái)階儀：工業(yè)檢測(cè)的實(shí)用之選 參考價(jià)：500000
澤攸臺(tái)階儀：工業(yè)檢測(cè)的實(shí)用之選澤攸臺(tái)階儀針對(duì)工業(yè)生產(chǎn)中的檢測(cè)需求設(shè)計(jì)，在保證測(cè)量穩(wěn)定性的同時(shí)，兼顧了檢測(cè)效率，適合生產(chǎn)線或質(zhì)檢車間使用。
澤攸臺(tái)階儀：實(shí)驗(yàn)室的可靠伙伴 參考價(jià)：500000
澤攸臺(tái)階儀：實(shí)驗(yàn)室的可靠伙伴在材料表面形貌測(cè)量領(lǐng)域，澤攸 臺(tái)階儀以實(shí)用設(shè)計(jì)和穩(wěn)定表現(xiàn)，成為實(shí)驗(yàn)室常用的測(cè)量工具。
澤攸臺(tái)階儀測(cè)量解決方案?? 參考價(jià)：500000
澤攸臺(tái)階儀測(cè)量解決方案??是一款專為現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)設(shè)計(jì)的便攜式臺(tái)階儀，重量?jī)H1.2kg，方便攜帶至不同工作場(chǎng)所。該產(chǎn)品采用緊湊型設(shè)計(jì)，兼具測(cè)量精度與操作便捷性，特別適...
澤攸臺(tái)階儀穩(wěn)定可靠之選? 參考價(jià)：500000
澤攸臺(tái)階儀穩(wěn)定可靠之選?澤攸臺(tái)階儀系列中的中量程型號(hào)，適用于機(jī)械加工、模具檢測(cè)、汽車零部件等行業(yè)。其高剛性結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)有效減少外部振動(dòng)影響，確保測(cè)量數(shù)據(jù)穩(wěn)定可靠。
??澤攸臺(tái)階儀：多場(chǎng)景測(cè)量助手? 參考價(jià)：500000
??澤攸臺(tái)階儀：多場(chǎng)景測(cè)量助手?澤攸臺(tái)階儀是一款適用于多種場(chǎng)景的測(cè)量工具，可用于實(shí)驗(yàn)室、工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)和教學(xué)環(huán)境。產(chǎn)品采用鋁合金框架，搭配耐磨橡膠底座，確保穩(wěn)定性和耐...
樣品處理與制備：ZEM系列臺(tái)式電鏡 參考價(jià)：面議
樣品處理與制備：ZEM系列臺(tái)式電鏡澤攸電鏡的JS系列臺(tái)階儀是進(jìn)行納米尺度表面輪廓和膜厚測(cè)量的工具。它與掃描電鏡技術(shù)相結(jié)合，可提供多維度的樣品信息。
原位實(shí)驗(yàn)方案：ZEM系列臺(tái)式電鏡介紹 參考價(jià)：面議
原位實(shí)驗(yàn)方案：ZEM系列臺(tái)式電鏡介紹澤攸電鏡的JS系列臺(tái)階儀是進(jìn)行納米尺度表面輪廓和膜厚測(cè)量的工具。它與掃描電鏡技術(shù)相結(jié)合，可提供多維度的樣品信息。
納米尺度分析：ZEM系列臺(tái)式電鏡介紹 參考價(jià)：面議
納米尺度分析：ZEM系列臺(tái)式電鏡介紹澤攸電鏡的JS系列臺(tái)階儀是進(jìn)行納米尺度表面輪廓和膜厚測(cè)量的工具。它與掃描電鏡技術(shù)相結(jié)合，可提供多維度的樣品信息。
高分辨成像：ZEM系列臺(tái)式電鏡介紹 參考價(jià)：面議
高分辨成像：ZEM系列臺(tái)式電鏡介紹對(duì)于尋求高分辨成像能力的用戶，澤攸電鏡的ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡將高性能融入小巧的機(jī)身中。該產(chǎn)品減少了用戶對(duì)大型設(shè)備空間的依賴。
澤攸透射電鏡：探索微觀世界 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡：探索微觀世界澤攸電射推出的PicoScan系列掃描電鏡（SEM），為材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)和納米技術(shù)研究提供了一種觀察工具。該系列電鏡設(shè)計(jì)緊湊，適合實(shí)...
澤攸原位電鏡MEMS系統(tǒng)技術(shù)解析方案 參考價(jià)：面議
澤攸原位電鏡MEMS系統(tǒng)技術(shù)解析方案澤攸透射電鏡原位MEMS系統(tǒng)是一套專為透射電子顯微鏡設(shè)計(jì)的微機(jī)電實(shí)驗(yàn)平臺(tái)，旨在實(shí)現(xiàn)對(duì)材料在多種外場(chǎng)激勵(lì)下的實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)觀測(cè)。該系...
澤攸原位MEMS：動(dòng)態(tài)電鏡觀測(cè)新方案 參考價(jià)：面議
澤攸原位MEMS：動(dòng)態(tài)電鏡觀測(cè)新方案在材料科學(xué)、納米技術(shù)和生命科學(xué)等領(lǐng)域，透射電子顯微鏡（TEM）是觀察材料微觀結(jié)構(gòu)的重要工具。而原位實(shí)驗(yàn)技術(shù)的進(jìn)步，使得研究人...
澤攸ZP3-4微納探針臺(tái)精密電學(xué)測(cè)量平臺(tái) 參考價(jià)：面議
澤攸ZP3-4微納探針臺(tái)是一款適用于微納器件電學(xué)性能測(cè)試的精密儀器，主要服務(wù)于半導(dǎo)體器件、納米材料和微電子機(jī)械系統(tǒng)（MEMS）等領(lǐng)域的研究與測(cè)試需求。該系統(tǒng)采用...
澤攸科技ZEM15C臺(tái)式掃描電鏡技術(shù)解析與應(yīng)用 參考價(jià)：面議
澤攸科技ZEM15C是一款緊湊型臺(tái)式掃描電子顯微鏡，專為材料科學(xué)、生命科學(xué)、工業(yè)檢測(cè)等領(lǐng)域設(shè)計(jì)。該設(shè)備在保持傳統(tǒng)電鏡高分辨率優(yōu)勢(shì)的同時(shí)，通過(guò)優(yōu)化設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了操作簡(jiǎn)...
ZEM 20Pro單晶燈絲臺(tái)式掃描電鏡 參考價(jià)：700000
ZEM 20Pro單晶燈絲臺(tái)式掃描電鏡采用單晶燈絲，最高放大36萬(wàn)倍，分辨率可達(dá)3nm。自動(dòng)亮度對(duì)比度、自動(dòng)聚焦、大圖拼接。超大樣品倉(cāng)可集成多種原位拓展平臺(tái)，滿...
ZEM15C臺(tái)式掃描電鏡 參考價(jià)：面議
ZEM15C臺(tái)式掃描電鏡秉承操作便捷、快速成像、性能穩(wěn)定的設(shè)計(jì)目標(biāo)，澤攸科技自主研發(fā)了鎢燈絲ZEM15C臺(tái)式掃描電子顯微鏡。
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，透射電子顯微鏡是提供在較高時(shí)間分辨率下得到原子級(jí)空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測(cè)量或全溫區(qū)測(cè)量功能。
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，采用全新的O圈輔助密封設(shè)計(jì)，更易封裝液體。實(shí)驗(yàn)中，樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內(nèi)，池內(nèi)可以承載一個(gè)大氣壓。...
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測(cè)量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實(shí)現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測(cè)條件。
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
澤攸STM-TEM力電一體測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸STM-TEM力電一體測(cè)量系統(tǒng) 是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
澤攸STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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