PVK/Si疊層研究痛點(diǎn)分析

鈣鈦礦/晶硅（PVK/Si）疊層太陽能電池研究中，光譜響應(yīng)分離和長期測試穩(wěn)定性是兩大核心挑戰(zhàn)。上層鈣鈦礦對可見光敏感，下層晶硅主要吸收近紅外區(qū)段（800–1200 nm）。傳統(tǒng)模擬器難以精確分離各子電池響應(yīng)，鈣鈦礦層還常面臨熱降解問題。

Enlitech全新推出的SS-LED220 A++級任意光譜LED太陽光模擬器專門針對這些問題設(shè)計，我們的這款新產(chǎn)品為PVK/Si疊層電池研究提供精準(zhǔn)測量方案。

A++級光譜精確調(diào)控能力

我們新推出的SS-LED220具備A++級任意光譜能力，光譜范圍涵蓋350 nm至1200 nm。軟件可獨(dú)立調(diào)控不同波段LED光源強(qiáng)度，精確模擬太陽光在可見光與近紅外的比例。

這一創(chuàng)新功能支持單結(jié)掃描（single-junction characterization）。研究人員可單獨(dú)測量上層PVK或下層Si的響應(yīng)，精準(zhǔn)分析串聯(lián)效率瓶頸，深入理解各層光吸收與載流子收集能力。光譜拼接擬合方法確保光譜精細(xì)度可調(diào)，且遠(yuǎn)超IEC 60904-9 A+級標(biāo)準(zhǔn)要求。

遲滯效應(yīng)克服與穩(wěn)態(tài)功率測試

鈣鈦礦電池載流子動力學(xué)導(dǎo)致較慢時間響應(yīng)與遲滯效應(yīng)（hysteresis effect），精準(zhǔn)測量穩(wěn)態(tài)功率輸出（SPO）成為挑戰(zhàn)。我們新研發(fā)的SS-LED220提供A++級時間不穩(wěn)定性（<0.5%），確保長效、連續(xù)且穩(wěn)定光照，光強(qiáng)隨時間漂移極低。

這款新產(chǎn)品支持Light soaking（MPPT）量測功能與時序編程控制。可整合預(yù)光照（Pre-Light-Soaking）處理后進(jìn)行IV測試。通過約一分鐘慢速IV曲線測量，有效克服遲滯效應(yīng)，獲取迭層電池真實、穩(wěn)定的輸出性能數(shù)據(jù)。

多光強(qiáng)載流子動力學(xué)研究

PVK/Si雙結(jié)電池在不同光強(qiáng)下展現(xiàn)出不同載流子動力學(xué)特性。我們最新推出的SS-LED220可快速程控光強(qiáng)，從極低光照到高光強(qiáng)（最高達(dá)1.5 Sun，即1500 W/m2），且不改變光譜。

軟件可設(shè)置20組不同光強(qiáng)，自動進(jìn)行IV掃描與6大參數(shù)分析，也支援自定義多段變光強(qiáng)量測。這有助于深入研究載流子復(fù)合行為、填充因子（FF）損失機(jī)制，以及穩(wěn)定性退化動力學(xué)。而且我們的新品SS-LED220采用LED冷光源，避免過度紅外熱效應(yīng)，對熱敏感的鈣鈦礦層特別適用。

大面積均勻照光與測試軟件

我們新推出的模擬器提供>220 mm × 220 mm大面積照光區(qū)域，輻照空間不均勻性達(dá)到A等級（<2%），確保樣品獲得一致光照。SS-LED220光譜匹配度為AM1.5G A++級（<6.25%不匹配度），特別適合雙結(jié)或多結(jié)電池效率認(rèn)證。

KA Viewer軟件提供理想因子n、逆向飽和電流密度J0、FF損耗測量分析及Diode model fitting等功能。IVS-KA6000軟件支持全自動IV測量、多通道測試（最高32通道），以及正向、逆向掃描等功能。

疊層電池研究的專業(yè)新產(chǎn)品方案

光焱科技全新推出的SS-LED220模擬器的光譜可調(diào)控性、高穩(wěn)定性、冷光源設(shè)計，以及對單結(jié)/雙結(jié)測試的全面支持，能幫助研究團(tuán)隊更精確分析雙結(jié)電池限制機(jī)制，加速效率提升與可靠性驗證。

聯(lián)系光焱科技，了解我們新推出的SS-LED220如何為您的PVK/Si疊層電池研究提供專業(yè)測試支持。