介電溫譜/頻譜測(cè)試系統(tǒng)用于研究材料（如塊體、薄膜等）的介電性能（介電常數(shù)、損耗因子等）隨溫度（溫譜）和頻率（頻譜）的變化規(guī)律。該系統(tǒng)核心組件包括LCR電橋、探針冷熱臺(tái)及專用測(cè)試軟件，可精準(zhǔn)測(cè)量并分析材料在不同溫度和不同頻率下的介電特性。

介電溫譜、頻譜測(cè)試系統(tǒng)硬件配置：

1、電橋LCR（keysight、同惠、日置、穩(wěn)科等各類品牌產(chǎn)品）

2、探針冷熱臺(tái)（CH600-190-P4等型號(hào)）

介電溫譜、頻譜測(cè)試系統(tǒng)規(guī)格參數(shù)：

1、溫度范圍：-190~600℃ / RT~1000℃（選型）

2、溫度穩(wěn)定性：±0.1℃

3、冷熱方式：液氮致冷，電阻加熱

4、載樣臺(tái)材質(zhì)：銀質(zhì)

5、載樣臺(tái)尺寸：23mm*23mm

6、腔體環(huán)境：氣密/真空

7、探針材質(zhì)及數(shù)量：紫銅鍍金或鎢鋼鍍金，4或8個(gè)（選型）