兩箱式冷熱沖擊試驗箱芯片半導(dǎo)體高低溫 參考價：面議
主要用途 用于測試各種材料在瞬間下經(jīng)高溫及低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在最短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。主要應(yīng)用于半導(dǎo)體芯片、科研院...
兩箱式冷熱沖擊試驗箱 參考價：面議
兩箱式冷熱沖擊試驗箱測試時樣品放在吊籃里，做高溫測試時吊籃提到高溫箱，反之做低溫試驗。(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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