Excipolar Magnon 掃描光電流成像系統(tǒng)
 

　　高精度、高靈敏、多場景
 

　　自主研發(fā)的一體化的顯微光電流測試系統(tǒng) ，由高穩(wěn)定性顯微系統(tǒng)、高精度振鏡掃描系統(tǒng)、高精度電學(xué)測試系統(tǒng)等組成 ，可實(shí)現(xiàn)自動化的光電流/電壓曲線和二維mapping 測試。本系統(tǒng)可使用紫外-可見-近紅外光源 ，包括激光器、氙燈、LED等、通過自由空間光路優(yōu)化，聚焦于樣品表面實(shí)現(xiàn)高空間分辨率。優(yōu)化的信號收集系統(tǒng)極大的提升了信噪比和靈敏度。眾多的配置選項(xiàng)，可與本公司的共焦顯微拉曼、 熒光光譜系統(tǒng)等結(jié)合實(shí)現(xiàn)聯(lián)合光譜測試。開放的測試環(huán)境，可搭建多維光譜測試平臺。可匹配高溫/低溫(高溫臺或低溫恒溫器)、磁場環(huán)境(超導(dǎo)磁體)、電場環(huán)境(探針臺)、拉伸/壓縮原位環(huán)境(拉伸臺)等各種環(huán)境下的光譜測試，原位獲得樣品的多維度信息。
 

光電聯(lián)合測量與光電流系統(tǒng)結(jié)構(gòu)示意圖
 

　　Excipolar Magnon 掃描光電流成像系統(tǒng)主要特點(diǎn)：
 

　　• 納米級逐點(diǎn)掃描模式精確表征片上微納器件的空間光電響應(yīng)特性。
 

　　• 全自動掃描，實(shí)時空間mapping信號強(qiáng)度顯示。
 

　　• fA-級電流靈敏度，微區(qū)可視化定點(diǎn)I-V特征曲線、樣品低溫配置等功能。
 

　　• 可配置屏蔽BNC測試盒+前放+鎖相/源表的弱光電流信號提取測試技術(shù)
 

　　應(yīng)用領(lǐng)域：
 

　　• 太陽能電池，光芯片，半導(dǎo)體器件，LED等復(fù)雜器件的失效分析和微區(qū)缺陷參數(shù)測試及其性能優(yōu)化。例如光生電流分布分析：檢測太陽能電池(如硅基、鈣鈦礦、有機(jī)半導(dǎo)體電池)的光生電流不均勻性，識別效率損失區(qū)域(如缺陷、晶界或成分不均)；量子效率與電阻分布：結(jié)合鎖相放大技術(shù)，量化微區(qū)量子效率差異，分析器件電阻對電流收集的影響，為結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)提供依據(jù)
 

　　• 二維材料、納米線、納米帶等低維材料可視化光電響應(yīng)的高精度表征。例如研究二維材料層間范德華力對載流子遷移率的影響，探測光電流各向異性分布；可視化材料異質(zhì)結(jié)內(nèi)建電場分布，識別界面勢壘、晶界缺陷或摻雜不均勻區(qū)域。
 

二維材料應(yīng)變異質(zhì)結(jié)的光電流掃描mapping