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GDWT-480型全自動型高低溫真空探針臺主要應用于I-V/C-V，PIV測試,傳感器，半導體，光電，集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電...

顯微鏡：顯微鏡類型單筒顯微鏡/體視顯微鏡放大倍率16X-200X移動行程水平方向繞立柱360度旋轉，Z軸50.8mm光源外置LED無極調節(jié)亮度環(huán)形光源

* 適用于6英寸以內的各種半導體器件的高精度測試*同軸驅動CHUCK*可以升級做射頻測試*20X~2000X 光學顯微放大*無后座力移動*可以選擇顯微鏡傾仰裝置...

在實際得科研生產中，由于樣品/晶圓（Wafer）得尺寸越來越大，用于測試得探針臺相當昂貴，我司根據客戶市場應用自主研發(fā)得這款結構小巧，功能實用，成本較低得簡易式...

JKZC-DM系列探針臺是我司一款基于高校教育與實驗室而研發(fā)的基礎型晶圓測試探針臺。其結構緊湊，設計精密，價格實惠，配置靈活，性價比。在高等院校教學和小型實驗室...

JKZC-DN系列探針臺是我司一款增強型晶圓測試探針臺，最大可完成12英寸晶圓的電學測試。此系列探針臺釆 用高剛性顯微鏡龍門結構，顯微鏡可X-Y-Z方向進行精密...

JKZC-DH系列探針臺是一款綜合型晶圓測試探針臺，最大可完成12英寸晶圓的電學測試。此系列探針臺設備配 置十分豐富，不僅具備龍門架結構和卡盤的升降功能，還具備...

JKZC-DSH系列探針臺是我司自主研發(fā)的一款雙面探針臺，最大可完成12英寸晶圓的正反面點針測試。在具備常 規(guī)探針臺的功能基礎上,可用于晶圓和PCB板的測試，對...

JKZC-UC系列探針臺是一款在非真空條件下實現低溫環(huán)境的測試探針臺。該產品釆用液氮或者空氣壓縮機制冷 ,自動控溫，設備配置非常豐富。自帶屏蔽暗室，一方面可以屏...

JKZC-DCHH系列高低溫真空探針臺是我司自主研發(fā)的一款在環(huán)境下給樣品加載電學信號的設備?？梢詫崿F 器件及材料表征的IV/CV特性測試，射頻測試，光電測試等。...

主要參數：進口高剛性絲桿,螺距:025mm/rev;X/Y/Z行程:12.5mm ,精度:0.5um;高剛性結構，彈簧消隙X-Y-Z穩(wěn)定無間隙；吸附形式:N52...

JKZC-DR-200mRF或者JKZC-DL-200mRF（R代表右邊，L代表左邊） 主要慘數：.進口高剛性絲桿螺距:0.25mm/rev ;?X/Y/Z行程...

產品型號JKZC-UC-JKZC-DR4產品參數-鐵磁屏蔽箱,屏蔽外界信號對測試的干擾，提升測試精度；?向上開門設計，空氣彈簧結構,帶接地端子；-高壓，大電流測...

?整機外形尺寸:約380mmL*300mmW*320mm H,重量:約10 kg；?雙探針座平臺鍍鏢設計，提高了針座平臺和針座之間的吸附力；? ChJKZC-U...