• IMS易姆斯測厚儀Toothed belt 32 BATK10
  IMS5400-TH 白光干涉儀：采用白光干涉技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)納米級精確厚度測量和多層厚度測量。測量范圍廣，氣隙測量（折射率～1）為 50µm 至 2.1 毫米，玻璃厚度測量（折射率～1.5）為 35µm 至 1.4 毫米。具有高速測量速率，最高可達(dá) 6kHz，且測量不受距離影響，即使是移動(dòng)物體也能獲得穩(wěn)定的納米級精確厚度值。其傳感器堅(jiān)固緊湊，配有高度靈活的光纖電纜，電纜長度可達(dá) 10 米，控制器可通過 DIN 導(dǎo)軌安裝在控制柜中，可通過 web 界面輕松配置，無需安裝額外軟件。

  IMS5200-TH 白光干涉儀：專為快速、高精度在線測量而設(shè)計(jì)，可測量 1 至 100µm 的涂層厚度，精度達(dá)納米級，線性度 <±100nm，還可對多達(dá)五層的薄層進(jìn)行多峰測量。測量速率可在 100Hz 至 24kHz 之間連續(xù)調(diào)整。傳感器和控制器在工廠進(jìn)行協(xié)調(diào)和校準(zhǔn)，具有緊湊堅(jiān)固的設(shè)計(jì)，工作范圍為 ±2mm，可輕松集成到狹窄的生產(chǎn)線中。控制器防護(hù)等級為 IP40，傳感器防護(hù)等級為 IP65，適用于工業(yè)環(huán)境，也可在潔凈室和真空等特殊環(huán)境中使用。

XR SSMC 多通道厚度輪廓測量系統(tǒng)：采用 X 射線測量技術(shù)，可連續(xù)實(shí)時(shí)測量帶材厚度和厚度橫截面輪廓。其 C 型框架配備一系列分段，每個(gè)分段由上梁中的輻射源和下梁中與寬度相關(guān)數(shù)量的探測器組成，形成測量通道。該系統(tǒng)可測量的厚度范圍可達(dá) 3000mm，還可測量寬度和中心線偏差，計(jì)算楔形和凸度值，具有測量速度快、穩(wěn)定性好等特點(diǎn)，適用于熱軋廠等場景。

IMS易姆斯測厚儀Toothed belt 32 BATK10