本文介紹了使用Hellma?線性濾光片研究珀金埃爾默?高性能LAMBDA?儀器（LAMBDA 850+和1050+）測量光譜可見區(qū)域線性度的方法。Hellma?線性濾光片是由單塊“有色"玻璃切割而成，然后經(jīng)拋光處理和高精度光學(xué)加工，厚度遞增，546 nm處吸光度對應(yīng)增加。
使用LAMBDA 1050+在400-700 nm波長范圍內(nèi)按2 nm步進(jìn)掃描，狹縫寬度為5 nm，檢測器響應(yīng)時間為1秒。
需要時，使用內(nèi)部衰減器對參考光束進(jìn)行衰減處理，從而優(yōu)化參比和樣品光束強(qiáng)度。
LAMBDA 1050+可進(jìn)行2 A和3 A自動衰減，可通過樣品室窗口上的附設(shè)磁性衰減器增強(qiáng)衰減效果。
對所有光譜進(jìn)行100%和0%自動歸零校正掃描。
收集的光譜數(shù)據(jù)如圖1所示。
圖1.使用Hellma?濾光片（F1-F7?參見表1）在400-700 nm波長范圍內(nèi)按2 nm步進(jìn)進(jìn)行掃描，狹縫寬度為5 nm，積分時間為1秒。參考光束的衰減值列于濾光片編號之后（點(diǎn)擊查看大圖）
圖2為根據(jù)濾光片厚度繪制的數(shù)據(jù)圖。采用最小二乘法執(zhí)行數(shù)據(jù)的線性擬合。與線性擬合的偏差小于0.04 A。濾光片厚度公差（±10 μm)。擬合線與原點(diǎn)在0.036 A處相交，符合預(yù)期結(jié)果，因?yàn)楸緦?shí)驗(yàn)不考慮濾光片兩個表面上的反射損耗。每個表面的實(shí)測反射損耗為 4%T，符合這種玻璃濾光片的預(yù)期結(jié)果。
圖2.Hellma?濾光片的濾光片厚度與實(shí)測吸光度關(guān)系圖（點(diǎn)擊查看大圖）
結(jié)論
采用本方法獲得了吸光度大于8 A的樣品的高質(zhì)量光譜數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)中的吸光度線性關(guān)系非常好，與線性擬合的偏差很小（< 0.04A），這些誤差可歸因于Hellma?線性濾光片自身的厚度公差。
這些結(jié)果是用LAMBDA 1050+分光光度計測得的，LAMBDA 850+/1050+系列儀器有相同的光學(xué)結(jié)構(gòu)都可以獲得相同的結(jié)果。LAMBDA 850+/1050+具有更高的光通量（光源倍增鏡）和高達(dá)3 A的內(nèi)置自動衰減器，可增強(qiáng)高吸光度樣品測試的功能性。
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