ANALYZER3內(nèi)孔激光缺陷檢測(cè)系統(tǒng)是根據(jù)圓形孔內(nèi)壁的反射光亮度的區(qū)別進(jìn)行缺陷篩選。探頭前端發(fā)射出激光束在圓形孔內(nèi)壁進(jìn)行螺旋式的掃描時(shí)，光纖會(huì)接收到來自工件內(nèi)壁的反射光?？梢詸z測(cè)氣孔,砂眼,劃痕等表面缺陷及孔內(nèi)是否有異物,毛刺,卡削等問題.

那與傳統(tǒng)的視覺檢測(cè)有什么不同呢?可以從以下幾個(gè)方面來比較.

1)首先檢測(cè)方式不同

Analyzer激光探頭是點(diǎn)的激光螺旋式掃描.探頭以15000轉(zhuǎn)/分鐘的速度旋轉(zhuǎn),Z軸移動(dòng),實(shí)現(xiàn)螺旋式掃描.

CCD視覺一般是面成相.

2)檢測(cè)精度不同

Analyzer激光檢測(cè)默認(rèn)是0.2mm,極限是0.1mm,可以進(jìn)行0.01mm的精細(xì)掃描

而CCD視覺是0.3mm以上

3)外部光源不同

Analyzer激光檢測(cè)缺陷裝置,不需要外部光源且不收光線影響.

CCD檢測(cè)需要穩(wěn)定的光源打光，并且要求外部光線環(huán)境穩(wěn)定

4)檢測(cè)內(nèi)孔范圍

Analyzer激光檢測(cè)缺陷裝置φ4mm~200mm的孔徑，針對(duì)定制探頭最小可以檢測(cè)直徑3mm孔

而CCD視覺理論上小于鏡頭的孔徑，只能在孔外部進(jìn)行多角度拍攝

5)檢測(cè)深度范圍

Analyzer激光檢測(cè)缺陷裝置可以測(cè)量200mm深，也可定制更長的探測(cè)頭，實(shí)現(xiàn)更深的內(nèi)孔探測(cè)

CCD視覺一般能到30mm以內(nèi)圖像有效

6)不良篩查

Analyzer激光檢測(cè)缺陷裝置可以根據(jù)設(shè)定條件，對(duì)掃描的缺陷尺寸進(jìn)行OK和NG的判定,可根據(jù)掃描的缺陷數(shù)據(jù)，對(duì)工件的不良趨勢(shì)，刀具的壽命進(jìn)行預(yù)判

CCD視覺對(duì)拍到的圖片進(jìn)行缺陷的有或無的判定，無法量化每個(gè)缺陷的形狀和大小尺寸

7)漏判定率,過判定率

nalyzer激光檢測(cè)缺陷裝置可以進(jìn)行精細(xì)掃描，極小的缺陷都可以看到，不會(huì)漏判定并根據(jù)客戶缺陷定義缺陷，極小概率過判定,不需要學(xué)習(xí),直接按照要求設(shè)定閾值.

CCD視覺無法拍攝到極小的缺陷，輕微的缺陷容易漏判.受零件水漬或者清洗痕跡影響，過判定率很高,而且需要學(xué)習(xí)缺陷的種類和形狀.