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PF-60KOSAKA小坂研究所點自動對焦表面形狀測量機PX 3990
DTM-20SN5便攜式一般測量卷尺搭載數(shù)碼測量儀PX 5630
晶圓厚度/電阻率/PN摻雜型測量儀 MX6012PX 3157
UltraShape - 晶圓關(guān)鍵尺寸測量系統(tǒng)PX 7045
ET8000型測量機PX 1950
WD4000無圖晶圓粗糙度測量系統(tǒng)PX 7898
BXS11-HJ30焊接檢驗尺PX 3672
NL-QMS磁控濺射納米顆粒尺寸控制系統(tǒng)PX 2414
PZ-332C半導(dǎo)體共面性測量設(shè)備PX 6562
DM025數(shù)顯千分尺PX 3617
德國Nedo伸縮式測量尺F380112供應(yīng)PX 4677
T2000-TLS-01韓國TANKTECH儲罐罐底干燥度測試尺PX 1390
MLP-3小坂MITAKA三鷹光器點自動對焦3D形狀測量機PX 3990
NH-3NsKOSAKA小坂三鷹光器激光點自動對焦3D形狀PX 3990
MSZ-300mini超小型高精度測量調(diào)節(jié)裝置數(shù)字卷尺PX 5630
大視野工件一鍵式測量儀PX 0
大視野一鍵式測量儀PX 0
非接觸式晶圓厚度測量儀 MX 301-QPX 3157
晶圓測厚儀 MX203-4-21PX 3157
晶圓厚度測量儀 MX 102-8PX 3157
Orzew FC20/FC20X全自動晶圓關(guān)鍵尺寸檢測及分選機PX 7045
LZ-H400Pl-D粗糙度輪廓儀PX 0
高精度一鍵式大視野閃測儀測量PX 0
VX8000 系列閃測儀測量儀PX 0
刀具輪廓測量儀PX 0
LOZON刀具測量儀PX 0
全自動拼拍測量儀PX 0
KIN-063D形貌輪廓測量設(shè)備(帶電動壓板)PX 0
SAM Premium超聲掃描顯微鏡PX 1950
SAM全自動全自動超聲波掃描顯微鏡PX 1950
SAM超聲波掃描顯微鏡PX 1950
SENTECH SENDURO®MEMS全自動薄膜質(zhì)量控制PX 1950
DSM8/200 Gen2測量系統(tǒng)PX 1950
ELIONIX-5超顯微壓痕硬度計PX 1950
全自動雙鏡頭影像測量儀領(lǐng)卓科技PX 0
高精度閃測儀PX 0
經(jīng)濟性影像測量儀PX 0
領(lǐng)卓科技全自動雙鏡頭影像測量儀PX 0
尺寸測量高精度閃測儀PX 0
高精度雙鏡頭影像測量儀PX 0
薄膜生長設(shè)備
工藝測量和檢測設(shè)備
集成電路測試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
熱工藝設(shè)備/熱處理設(shè)備
硅片制備/晶體生長設(shè)備
掩模版和中間掩模版制造設(shè)備
離子注入設(shè)備
干法工藝設(shè)備
濕法工藝設(shè)備
組裝與封裝設(shè)備
其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
KOSAKA小坂研究所點自動對焦表面形狀測量機
小坂MITAKA三鷹光器點自動對焦3D形狀測量機
KOSAKA小坂三鷹光器激光點自動對焦3D形狀
便攜式一般測量卷尺搭載數(shù)碼測量儀
超小型高精度測量調(diào)節(jié)裝置數(shù)字卷尺
晶圓厚度/電阻率/PN摻雜型測量儀 MX6012
非接觸式晶圓厚度測量儀 MX 301-Q
晶圓測厚儀 MX203-4-21
半導(dǎo)體共面性測量設(shè)備
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學儀器有限公司
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