安捷倫科技（中國）有限公司
使用 ICP-OES 測(cè)定金屬樣品中的硅元素
檢測(cè)樣品：金屬
檢測(cè)項(xiàng)目：硅元素
方案概述：本文介紹了一種使用 ICP-OES 測(cè)定金屬樣品基體中，氫氟酸介質(zhì)下硅元素的方法，采用了安捷倫無硅涂層的耐氫氟酸進(jìn)樣系統(tǒng)，克服了常規(guī) ICP-OES 分析氫氟酸介質(zhì)空白值高的缺點(diǎn)，獲得了較低的空白值，適合于測(cè)定多種金屬基體中不同含量范圍的硅元素。
本文介紹了一種使用 ICP-OES 測(cè)定金屬樣品基體中，氫氟酸介質(zhì)下硅元素的方法，采用了安捷倫無硅涂層的耐氫氟酸進(jìn)樣系統(tǒng)，克服了常規(guī) ICP-OES 分析氫氟酸介質(zhì)空白值高的缺點(diǎn)，獲得了較低的空白值，適合于測(cè)定多種金屬基體中不同含量范圍的硅元素。
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