首頁(yè)>>愛(ài)發(fā)科費(fèi)恩斯（南京）儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>X射線光電子能譜儀
PHI 硬X射線光電子能譜儀 參考價(jià)：面議
下一代透明發(fā)光材料使用直徑約為 10nm~50nm 的 納米量子點(diǎn)（QDs）， 結(jié)合使用 XPS（Al Kα X 射線） 和 HAXPES（Cr Kα X 射線...
PHI X射線光電子能譜儀 參考價(jià)：面議
XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy),又稱ESCA (Electron Spectroscopy for Chemica...
掃描俄歇納米探針 參考價(jià)：面議
PHI 710掃描俄歇納米探針是一臺(tái)設(shè)計(jì)*的高性能的俄歇電子能譜（AES）儀器。該設(shè)備能分析納米級(jí)特征區(qū)域，超薄薄膜和多層結(jié)構(gòu)材料表界面的元素態(tài)和化學(xué)態(tài)信息。作...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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