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第二十六屆中國國際光電博覽會（CIOE）將于2025年9月10-12日在深圳國際會展中心舉辦。聚焦信息通信、精密光學(xué)、攝像頭技術(shù)及應(yīng)用、激光制造、紅外紫外、智能傳感、新型顯示及AR/VR等八大前沿領(lǐng)域
2025IPF功率器件制造測試與應(yīng)用大會即將開幕，會議于8月21日-22日在無錫梁鴻濕地麗笙度假酒店舉辦，為期兩天。本屆大會聚焦：功率半導(dǎo)體先進(jìn)材料與晶圓“智”造、功率器件與功率系統(tǒng)集成功率器件的新應(yīng)
SEMICONCHINA2025半導(dǎo)體行業(yè)盛會將于3月26日至28日在上海新國際博覽中舉辦。優(yōu)尼康攜多款精密測量設(shè)備參展，歡迎新老朋友蒞臨觀展！識別下方二維碼「預(yù)約報名參展」SEMICON“優(yōu)尼康展臺
為期三天的第25屆深圳國際光電博覽會圓滿閉幕。這次光博會，國內(nèi)外光學(xué)同仁齊聚一堂，現(xiàn)場人潮涌動。優(yōu)尼康科技有限公司攜多臺設(shè)備參加了此次盛會，吸引了眾多觀眾駐足參觀，并一起探討了優(yōu)尼康設(shè)備在各種場景的應(yīng)
本屆CIOE中國光電博覽會匯聚了來自全球超30個國家和地區(qū)的超3700家的優(yōu)質(zhì)參展企業(yè)，作為覆蓋光電全產(chǎn)業(yè)鏈的綜合型展會，覆蓋信息通信、精密光學(xué)、攝像頭技術(shù)及應(yīng)用、激光及智能制造、紅外、紫外、智能傳感
白光共聚焦顯微鏡是結(jié)合了共聚焦成像技術(shù)與白光照明的高精度顯微設(shè)備，可實現(xiàn)樣品的高分辨率、高對比度三維成像，其核心工作原理圍繞共聚焦光路設(shè)計和白光光源的多波段成像展開，具體如下：一、核心結(jié)構(gòu)基礎(chǔ)白光共聚
XRF鍍層測厚儀的校準(zhǔn)方法包括準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)樣板、檢查測厚儀、放置標(biāo)準(zhǔn)樣板、進(jìn)行測量和校準(zhǔn)以及記錄結(jié)果等步驟。而測厚儀的維護(hù)保養(yǎng)則包括定期清潔、避免撞擊和震動、正確存儲等。XRF鍍層測厚儀校準(zhǔn)方法：1.準(zhǔn)備
光學(xué)膜厚測量儀（是一種非接觸式、精確測量薄膜厚度的儀器，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光電、涂層、玻璃、金屬等領(lǐng)域的薄膜材料檢測。與傳統(tǒng)的機(jī)械測量方法相比，光學(xué)膜厚測量儀具有高精度、高效率和非破壞性的特點(diǎn)，能夠滿
四探針電阻率測量儀是一種常用于測量材料電阻率的儀器，特別適用于半導(dǎo)體、金屬、薄膜等材料的電阻特性分析。它通過四個探針同時接觸到樣品表面，利用其測量電流和電壓來計算電阻率，具有高精度和無損測量的優(yōu)點(diǎn)。四
KLA納米壓痕儀作為表征材料微觀力學(xué)性能(如硬度、彈性模量、蠕變、斷裂韌性等)的核心設(shè)備，其實驗結(jié)果的準(zhǔn)確性高度依賴樣品制備、參數(shù)設(shè)置、操作規(guī)范及數(shù)據(jù)解讀的科學(xué)性。結(jié)合KLA儀器的硬件特性(如Berk
光學(xué)表面輪廓儀是一種測量物體表面形狀的工具。它通過掃描物體表面，并記錄接收到的反射光信號來生成一個三維模型。原理基于三角測量法。當(dāng)激光束打在物體表面上時，它會被反射回來并通過鏡頭進(jìn)入相機(jī)。根據(jù)反射光線
KLA探針式臺階儀基于"探針接觸掃描+傳感器反饋"技術(shù)，通過探針與樣品表面接觸并掃描，結(jié)合高精度傳感器實時反饋位移變化，實現(xiàn)納米級至微米級臺階高度、表面形貌及應(yīng)力的二維/三維測量。以下是其工作原理的詳
四探針電阻率測量儀是一種用于測量材料表面電阻的儀器，在電子制造行業(yè)，特別是在PCB板、纖維布、皮革、塑料等材料的表面電阻測試中，它被廣泛使用。下面我們來了解一下四探針電阻率測量儀的使用方法。首先，我們
FilmetricsF50自動Mapping膜厚測量儀依靠光譜測量系統(tǒng)，可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標(biāo)移動平臺，可以快速的定位所需測試的點(diǎn)并測試厚度，測試非?？焖?，大約每秒能測試兩點(diǎn)。用戶可以自己繪制需要的點(diǎn)位地圖。Filmetrics...
無論您是想要知道薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)，還是想要知道材料的反射率和透過率，F(xiàn)ilmetricsF20單點(diǎn)光學(xué)膜厚測量儀都能滿足您的需要。僅需花費(fèi)幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設(shè)備就可以在數(shù)秒內(nèi)得到測量結(jié)果?；谀K化設(shè)計的特點(diǎn)，F(xiàn)ilmetricsF20單點(diǎn)光學(xué)膜厚測量儀適用于...
HERZ主動式防震臺AVI-400電鏡因我們AVI而更精彩！!AVI主動式減震方案已經(jīng)被不同行業(yè)高精密儀器廠家所采用,直接集成在系統(tǒng)框架上，取代傳統(tǒng)的空氣減震。如有您的儀器出廠時并沒有配置，現(xiàn)在我們可以為您實現(xiàn)！！簡單一步就能將儀器升級！！提升效能，提高精度??！您還在為低頻振動為...
Filmetrics薄膜測厚儀FilmetricsF40薄膜測厚儀結(jié)合顯微鏡的薄膜測量系統(tǒng)Filmetrics的精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)果。當(dāng)測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區(qū)域進(jìn)行...
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