KLA 探針式表面輪廓儀 參考價：面議
KLA 探針式表面輪廓儀采用光學杠桿傳感器技術提供高分辨率、較大的高度測量范圍和準確的微力控制。探針的接觸式測量技術的優(yōu)點是直接測量，與材料特性無關。多種力度調(diào)...
Film Sense 多波長橢偏儀 參考價：面議
Film Sense FS-8多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動 式部件橢偏探測器，可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現(xiàn)可靠地薄膜測量。大多數(shù)厚度 0–1...
HORIBA 激光粒徑分布分析儀 參考價：面議
HORIBA 激光粒徑分布分析儀秉承HORIBA 一貫的設計傳統(tǒng)，其直觀的軟件、附件和高效的性能，能解決廣泛的應用問題。
Filmetrics 自動光學膜厚測量儀 參考價：面議
Filmetrics 自動光學膜厚測量儀借助光譜反射系統(tǒng)，可以測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供厚度測量，...
Bowman XRF高精度鍍層測量儀 參考價：面議
Bowman XRF高精度鍍層測量儀，Bowman博曼 K系列 XRF高精度涂層測量系統(tǒng)，具備12英寸×12英寸的測量區(qū)域，適用于多種樣品檢測。
KLA 納米壓痕儀 參考價：59
KLA 納米壓痕儀，KLA iMicro 納米壓痕儀可輕松測量硬涂層，薄膜和少量材料。該儀器準確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級測試等...
3D白光干涉輪廓儀 參考價：面議
3D白光干涉輪廓儀，KLA Profilm3D 光學輪廓儀使用垂直干涉掃描(WLI)技術與相位干涉(PSI)技術。以較低的價格實現(xiàn)次納米級的表面形貌研究。采用白...
Filmetrics F20 白光干涉測厚儀 參考價：面議
Filmetrics F20 白光干涉測厚儀儀是一款高精度、多功能的測量設備，能夠快速測定薄膜厚度、光學常數(shù)、反射率和透過率等特性。其非接觸式測量方式適合各種脆...
HORIBA 納米顆粒分析儀 參考價：面議
HORIBA 納米顆粒分析儀一臺簡潔小巧的裝置能同時實現(xiàn)對納米粒子三項參數(shù)的表征：粒徑、Zeta電位和分子量。納米技術的研發(fā)是一個持續(xù)不斷的過程，在分子和原子水...
KLA 納米壓痕儀 參考價：59
KLA納米壓痕儀，KLA iNano 納米壓痕儀可輕松測量薄膜、涂層和少量材料。該儀器準確、靈活，并且用戶友好，可以提供壓痕、硬度、劃痕和通用納米級測試等多種納...
HORIBA 橢圓偏振光譜儀 參考價：面議
HORIBA 橢圓偏振光譜儀，HORIBA Smart SE 橢圓偏振光譜儀是一種薄膜測量工具。僅需簡單的幾個按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動完成樣品測量和分析，并提供完...
Unicorn優(yōu)尼康 低頻主動式消磁器 參考價：面議
Unicorn優(yōu)尼康 低頻主動式消磁器UNICORN α500 低頻消磁系統(tǒng)（EMICancelingSystem，又稱消磁器），DC與AC雙模式主動消磁器，采...
KLA 探針式臺階儀 參考價：面議
KLA 探針式臺階儀，KLA P-7 探針式臺階儀是KLA公司的探針式臺階儀系統(tǒng)。KLA P-7 探針式表面輪廓儀建立在P-17臺式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎之...
KLA 白光共聚焦顯微鏡 參考價：面議
KLA 白光共聚焦顯微鏡，KLA Zeta-20白光共聚焦顯微鏡基于ZDot技術而來。Zeta-20 白光共聚焦顯微鏡可以對大部分材料和結構進行成像分析，從光滑...
KLA 表面光學輪廓儀 參考價：面議
KLA 表面光學輪廓儀，KLA Zeta-388光學輪廓儀是非接觸式三維表面形貌測量系統(tǒng)。該系統(tǒng)在Zeta-300光學輪廓儀的基礎上，增加了用于全自動測量的機械...
KLA光學輪廓儀 參考價：面議
KLA光學輪廓儀KLA Profilm3D 是一款3D白光干涉輪廓儀。KLA Profilm3D 光學輪廓儀使用垂直干涉掃描(WLI)技術與相位干涉(PSI)技...
Filmetrics薄膜厚度測量儀 參考價：面議
Filmetrics薄膜厚度測量儀以真空鍍膜為設計目標，F(xiàn)10-RT 薄膜厚度測量儀只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜。 只需簡單操作。用戶就能進行 FWHM ...
Filmetircs光學膜厚測量儀 參考價：面議
Filmetircs光學膜厚測量儀滿足薄膜厚度范圍15nm到3mm的厚度測試系統(tǒng)，如需了解更多 光學膜厚測量儀膜厚測試儀 F3-sX 信息，咨詢。
Filmetrics 自動測量光學膜厚儀 參考價：面議
Filmetrics 自動測量光學膜厚儀借助F54-XYT-300的光譜反射系統(tǒng)，可以快速輕松地測量200 x 200mm樣品的薄膜厚度。電動XY工作臺自動移動...
KLA四探針電阻率測量儀 參考價：面議
KLA四探針電阻率測量儀是KLA的電阻率測量產(chǎn)品。從半導體制造到實現(xiàn)可穿戴技術所需的柔性電子產(chǎn)品，薄膜電阻監(jiān)控對于任何使用導電薄膜的行業(yè)都相當重要。KLA R5...
Nanosurf 真空環(huán)境用原子力顯微鏡 參考價：面議
Nanosurf AFSEM 真空環(huán)境用原子力顯微鏡由GETec與Nanosurf提供,讓您能輕松地聯(lián)合兩種功能強大的分析工具，原子力顯微鏡(AFM)與掃描電子...
Nanosurf 自動力譜成像原子力顯微鏡 參考價：面議
Nanosurf Flex-ANA 自動力譜成像原子力顯微鏡是基于原子力顯微鏡納米力學分析的自動化解決方案。它旨在以直觀和自動化的方式通過力譜和力圖研究多種或大...
KLA 探針式表面輪廓儀 參考價：面議
KLA D500 探針式表面輪廓儀的光學杠桿傳感器技術提供高分辨率、較大的高度測量范圍和準確的微力控制。探針的接觸式測量技術的優(yōu)點是直接測量，與材料特性無關。多...
KLA 探針式臺階儀 參考價：面議
KLA P-17 探針式臺階儀是P系列探針式臺階儀的產(chǎn)品。該系統(tǒng)具備可編程掃描平臺、低噪聲電子分辨率，垂直范圍內(nèi)實現(xiàn)高分辨率掃描，能夠覆蓋樣品表面整個區(qū)域。KL...
7