首頁(yè)>>優(yōu)尼康科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>薄膜輪廓與粗糙度測(cè)量>>3D光學(xué)輪廓儀
3D白光干涉輪廓儀 參考價(jià):面議
3D白光干涉輪廓儀,KLA Profilm3D 光學(xué)輪廓儀使用垂直干涉掃描(WLI)技術(shù)與相位干涉(PSI)技術(shù)。以較低的價(jià)格實(shí)現(xiàn)次納米級(jí)的表面形貌研究。采用白...KLA 表面光學(xué)輪廓儀 參考價(jià):面議
KLA 表面光學(xué)輪廓儀,KLA Zeta-388光學(xué)輪廓儀是非接觸式三維表面形貌測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)在Zeta-300光學(xué)輪廓儀的基礎(chǔ)上,增加了用于全自動(dòng)測(cè)量的機(jī)械...KLA光學(xué)輪廓儀 參考價(jià):面議
KLA光學(xué)輪廓儀KLA Profilm3D 是一款3D白光干涉輪廓儀。KLA Profilm3D 光學(xué)輪廓儀使用垂直干涉掃描(WLI)技術(shù)與相位干涉(PSI)技...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)