首頁(yè)>>北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司>>產(chǎn)品展示>>半導(dǎo)體材料測(cè)試儀
B2912A-16T型多通道通道高低溫電阻測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：555
B2912A-16T型多通道高低溫電阻I/V（電流 vs 電壓）測(cè)試系統(tǒng)是一款針對(duì)特殊樣品多路電極測(cè)試的系統(tǒng)，解決了同一個(gè)樣品面對(duì)點(diǎn)I/V（電流 vs 電壓），...
JKZC-GSTS08型氣體傳感器陣測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：555
JKZC-GSTS08氣體傳感器陣測(cè)試系統(tǒng)主要完成氣體敏感材料及氣敏傳感器器件的性能檢測(cè)和評(píng)價(jià)，適用氣體范圍包括常溫是氣態(tài)的氣體和部分揮發(fā)性液體，如乙醇、苯等，...
JSD-100型金屬材料電阻率(微電阻)測(cè)試儀 參考價(jià)：555
JSD-100型金屬材料電阻率(微電阻)測(cè)試儀為用于金屬材料的電阻可視化檢測(cè)設(shè)計(jì)，由于銀、銅、金、鋁等具有較好導(dǎo)電性，這些金屬材料在日常使用體積范圍時(shí)其電阻值就...
HEM-200 高低溫霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：555
系統(tǒng)組成：HEM-200 高低溫霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)本儀器系統(tǒng)由電磁鐵、電磁鐵電源、高精度恒流源、高精度電壓表、矩陣卡、霍爾效應(yīng)樣品支架、標(biāo)準(zhǔn)樣品、系統(tǒng)軟件組成。本...
HEM-500HA高低溫電磁型 參考價(jià)：555
HEM-500HA高低溫電磁型全自動(dòng)霍爾效應(yīng)測(cè)試系統(tǒng)本儀器系統(tǒng)由電磁鐵、電磁鐵電源、高精度恒流源、高精度電壓表、霍爾效應(yīng)樣品支架、標(biāo)準(zhǔn)樣品、高低溫杜瓦，控溫儀，...
非標(biāo)探針臺(tái)/微型/光電流測(cè)試顯微鏡 參考價(jià)：9999
非標(biāo)探針臺(tái)/微型探針臺(tái)/倒裝手動(dòng)測(cè)試夾具/光電流測(cè)試顯微鏡/TEC制冷卡盤/磁場(chǎng)探針臺(tái)(無(wú)磁設(shè)計(jì))/110g以上高頻測(cè)試探針臺(tái)/自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)/可升降平臺(tái)/高精度...
探針臺(tái)配件/屏蔽箱/防震系統(tǒng)/轉(zhuǎn)接頭/轉(zhuǎn)接線 參考價(jià)：9999
探針臺(tái)配件/屏蔽箱/防震系統(tǒng)/轉(zhuǎn)接頭/轉(zhuǎn)接線
探針臺(tái)配件/ 12C有源探頭探針座/探針 參考價(jià)：9999
探針臺(tái)配件/ 12C有源探頭探針座/GGB 12C有源探頭/開爾文探針座/美國(guó)APT開爾文探針
探針臺(tái)配件/射頻探針座/探針 參考價(jià)：9999
探針臺(tái)配件/射頻探針座/射頻探針
探針臺(tái)配件/直流探針座 參考價(jià)：9999
探針臺(tái)配件/直流探針座/直流夾具/直流探針
JKZC-DCHH系列高低溫真空探針臺(tái) 參考價(jià)：9999
JKZC-DCHH系列高低溫真空探針臺(tái)是我司自主研發(fā)的一款在環(huán)境下給樣品加載電學(xué)信號(hào)的設(shè)備?？梢詫?shí)現(xiàn) 器件及材料表征的IV/CV特性測(cè)試，射頻測(cè)試，光電測(cè)試等。...
JKZC-UC系列高低溫探針臺(tái) 參考價(jià)：9999
JKZC-UC系列高低溫探針臺(tái)是一款在非真空條件下實(shí)現(xiàn)低溫環(huán)境的測(cè)試探針臺(tái)。該產(chǎn)品釆用液氮或者空氣壓縮機(jī)制冷 ,自動(dòng)控溫，設(shè)備配置非常豐富。自帶屏蔽暗室，一方面...
JKZC-DSH系列雙面探針臺(tái) 參考價(jià)：9999
JKZC-DSH系列探針臺(tái)是我司自主研發(fā)的一款雙面探針臺(tái)，最大可完成12英寸晶圓的正反面點(diǎn)針測(cè)試。在具備常 規(guī)探針臺(tái)的功能基礎(chǔ)上,可用于晶圓和PCB板的測(cè)試，對(duì)...
JKZC-DM系列基礎(chǔ)型探針臺(tái) 參考價(jià)：9999
JKZC-DM系列探針臺(tái)是我司一款基于高校教育與實(shí)驗(yàn)室而研發(fā)的基礎(chǔ)型晶圓測(cè)試探針臺(tái)。其結(jié)構(gòu)緊湊，設(shè)計(jì)精密，價(jià)格實(shí)惠，配置靈活，高性價(jià)比。在高等院校教學(xué)和小型實(shí)驗(yàn)...
SCD-1500型半導(dǎo)體C-V特性分析儀 參考價(jià)：1200
SCD-1500型半導(dǎo)體C-V特性分析儀創(chuàng)新性地采用了雙CPU架構(gòu)、Linux底層系統(tǒng)、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內(nèi)置使用說(shuō)明及幫助等新一代技術(shù)...
WLRYJ-300型微流控芯片真空熱壓機(jī) 參考價(jià)：9999
WLRYJ-300型微流控芯片真空熱壓機(jī)是一款應(yīng)用于PMMA、PC、PP、COP、COC、BOPET、CBC、樹脂（部分）、聚乙烯（部分）等硬質(zhì)塑料芯片的鍵合，...
JYJC-3型絕緣及抗靜電材料電阻率儀（三環(huán)電極法） 參考價(jià)：9999
JYJC-3型絕緣及抗靜電材料電阻率及表面電阻測(cè)試儀是一款針專門用于絕緣及抗靜電材料電阻率及表面電阻測(cè)試裝置，采用環(huán)形三電極測(cè)試可以勝任于防靜電產(chǎn)品(防靜電鞋、...
JWDL-1型金屬電阻率測(cè)試儀（銅，導(dǎo)電薄膜） 參考價(jià)：9999
JWDL-1型金屬電阻率測(cè)試儀是一款針對(duì)于不同金屬材料電阻測(cè)試的專業(yè)設(shè)備，不管是銅金屬材料，導(dǎo)電金屬箔材，金屬片等，柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃...
DRJS-2型電容器金屬化膜測(cè)試儀（平行刀法） 參考價(jià)：9999
DRJS-2型電容器金屬化膜測(cè)試儀是一款專門應(yīng)用于電容器薄膜測(cè)試的設(shè)備， PET薄膜上金屬化膜，真空鍍膜和噴鍍工藝形成，金屬膜厚度極薄，附著力差，容易脫落。 薄...
WSHD-600型晶圓均勻加熱裝置 參考價(jià)：面議
晶圓是指硅半導(dǎo)體集成電路制作所用的硅晶片，其形狀為圓形；晶圓高溫測(cè)試是集成電路行業(yè)一道重要制程，通過(guò)嚴(yán)格的高溫測(cè)試可以預(yù)先剔除不良芯片，降低后續(xù)高昂的封裝成本。...
全自動(dòng)型高低溫真空探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
GDWT-480型全自動(dòng)型高低溫真空探針臺(tái)主要應(yīng)用于I-V/C-V，PIV測(cè)試,傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。 產(chǎn)品供應(yīng)北京、上海、杭州等全國(guó)各...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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