NS-20 非接觸式膜厚儀 參考價(jià)：面議
NS-20 非接觸式膜厚儀是桌面式手動(dòng)膜厚測(cè)量分析系統(tǒng)。在保證整體小巧輕盈的同時(shí)，其準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性絲毫未減。擁有NanoSense系列所有的算法軟件功能，性價(jià)比...
膜厚測(cè)量套件 參考價(jià)：面議
NS-OEM系列（膜厚測(cè)量套件）是基于 NS-20 薄膜測(cè)厚儀研發(fā)的。其光學(xué)探頭設(shè)計(jì)得較為緊湊，可適用于多種安裝環(huán)境。為確保測(cè)量精準(zhǔn)，光學(xué)探頭需與樣品表面保持垂...
彎曲表面膜厚儀（手持） 參考價(jià)：面議
NS-Touch 彎曲表面膜厚儀（手持）是一種優(yōu)良的手持式薄膜測(cè)量系統(tǒng)，具有顯著的價(jià)格優(yōu)勢(shì)。能夠在幾秒鐘內(nèi)快速分析薄膜的反射光譜數(shù)據(jù)，并分析單層和多層薄膜的厚度...
桌面式自動(dòng)膜厚儀 參考價(jià)：面議
NS-30 系列 (桌面式自動(dòng)膜厚儀)是桌面式自動(dòng)膜厚測(cè)量分析系統(tǒng)。在膜厚測(cè)量的基礎(chǔ)上迭加自動(dòng)測(cè)樣載臺(tái)，能夠?qū)υO(shè)置好的點(diǎn)位進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量，并進(jìn)一步生成2D和3D的...
光學(xué)非接觸 手動(dòng)薄膜膜厚測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
悉識(shí)科技 光學(xué)非接觸 手動(dòng)薄膜膜厚測(cè)厚儀AcuiTik白光干涉膜厚測(cè)厚儀NS-20采用垂直入射高穩(wěn)定寬波段光的光學(xué)干涉原理，實(shí)現(xiàn)納米至微米級(jí)透明或半透明膜層厚度...
NS-Vista 反射透射測(cè)量雙通道膜厚儀 參考價(jià)：面議
NS-Vista 反射透射測(cè)量雙通道膜厚儀是一款技術(shù)優(yōu)良的桌面薄膜厚度測(cè)量與分析系統(tǒng)。它具備同時(shí)測(cè)量反射率和透射率的能力，在測(cè)量高反射率或低反射率的樣本時(shí)極為強(qiáng)...
悉識(shí)科技 非接觸桌面式自動(dòng) 薄膜膜厚測(cè)厚儀 參考價(jià)：面議
悉識(shí)科技 非接觸桌面式自動(dòng) 薄膜膜厚測(cè)厚儀AcuiTik白光干涉膜厚測(cè)厚儀NS-30采用垂直入射高穩(wěn)定寬波段光的光學(xué)干涉原理，實(shí)現(xiàn)納米至微米級(jí)透明或半透明膜層厚...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
會(huì)員.png)
2