NS-20UV 是一款高精度的桌面式手動薄膜測厚儀（國產(chǎn)對標Filmetrics F20 膜厚儀），它基于白光干涉技術(shù)，非常適合在實驗室或生產(chǎn)線上進行快速、非接觸的膜厚分析。
一、具體規(guī)格
- 型號：NS-20UV
- 測量原理：白光干涉
- 操作方式：桌面式手動
- 波長范圍：190 nm - 1100 nm
- 厚度測量范圍：1 nm - 40 μm
- 測量準確度：1 nm 或 0.2%
- 測量精度：0.02 nm
- 單次測量速度：< 1秒
- 光斑大?。?.5 mm
- 光源類型：鹵鎢燈 + 氘燈
二、儀器主要特點
1、國產(chǎn)化與自動校準：NS-20UV 的軟硬件實現(xiàn)了全國產(chǎn)自研，并具備自動校準功能，減少了頻繁手動校準的麻煩，支持長時間穩(wěn)定工作。
2、非接觸與高穩(wěn)定性：采用非接觸式測量，不會損傷樣品表面。儀器具有亞納米級的精度和非常高的靜態(tài)穩(wěn)定性（0.02 nm），尤其適合測量軟質(zhì)或易受損的樣品。
3、多層膜與智能算法：能夠測量多層復合薄膜中各層的厚度。其核心算法可以一鍵式測量跨度很大的膜厚，簡化了操作流程。
4、靈活便攜：作為手動測量系統(tǒng)，它具有很高的靈活性，并可定制便攜手提箱，方便在不同場所進行測量。
三、應(yīng)用領(lǐng)域
這款儀器廣泛用于需要精密膜厚檢測的領(lǐng)域，包括半導體制造、顯示面板、光伏產(chǎn)業(yè)、光學鍍層以及學術(shù)研究等。
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