NS-30 半導體薄膜非接觸測厚儀
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 蘇州悉識科技有限公司
- 品牌
- 型號 NS-30
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/11/4 11:44:26
- 訪問次數(shù) 149
產(chǎn)品標簽
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 20萬-50萬 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 生物產(chǎn)業(yè),能源,電子/電池,包裝/造紙/印刷,航空航天 |
NS-30半導體薄膜非接觸測厚儀是一款基于白光干涉原理的高精度測量設備，特別適用于需要自動化測量和精準厚度分布分析的場景。
1、核心原理
垂直入射的高穩(wěn)定寬波段光入射到樣品表面，在各膜層之間產(chǎn)生光學干涉現(xiàn)象，反射光經(jīng)過光譜分析以及回歸算法可計算出薄膜各層的厚度。適合測量納米級至微米級的透明或半透明膜層的厚度、反射率、折射率等參數(shù)。
2、具體參數(shù)
- 核心原理：垂直入射寬波段白光干涉技術(shù)
- 測量范圍：1 nm 至 250 μm
- 波長范圍 (NIP型號)：950 nm - 1700 nm (近紅外波段)
- 準確度：3 nm 或 0.4%
- 重復精度：0.1 nm
- 測量速度：< 1秒/單點
- 光斑大?。?.5 mm
- 核心特色：自動樣品載臺，可預設點位進行自動測量，并生成厚度、折射率、反射率的2D/3D分布圖
- 樣品臺尺寸：100mm 至 450mm 可選
- 測量能力：可測量多層復合薄膜各層的厚度、折射率(n)和反射率
3、核心功能
4、實測結(jié)果展示
采購中心
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